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--- 产品详情 ---
中图仪器SJ5730系列纳米探针式轮廓仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,分辨率高达0.1nm,系统残差小于3nm。
SJ5730系列纳米探针式轮廓仪通过超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能伺服驱动电机保证测量的超高稳定性及直线度,采用超高精度纳米衍射光学转轴测量系统及高精度直线光栅X轴建立工件表面轮廓的二维坐标,计算机采用高精度标定系统对采样数据进行修正标定,最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来,通过软件提供的分析工具可对轮廓及微观轮廓进行各种粗糙度参数、轮廓参数分析。
产品优势
1、轴承测量、高稳定、高精密
(1)具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,测试轴承内外侧。可选轴承夹具和滚子分析,方便测试。
(2)分辨率高达0.1nm,系统残差小于3nm。
(3)超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。
(4)高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度。
(5)精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。
2、操作灵活、智能、简单
(1)轮廓和粗糙度一体测量,无需切换模块。
(2)测针一键拔插,设计的高刚性拔插结构,无需锁螺钉,方便快捷、稳定可靠。
(3)各个运动轴都有进行硬件及软件保护,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。
(4)带舵机结构,可防止扫描陡坡时的快速下坠。
(5)智能恒测力系统,0.5-3mN 测力档位可调,降低了测力变化引起的测量误差,适合测量各类软、硬性工件。
(6)组合调节控制手柄可快速完成载物台平移,X轴和Z轴定位,测杆上下摆动及速度分级调节功能。
(7)根据GB/T、ISO、JIS等标准,自动评价粗糙度。
(8)软件操作界面简洁直观,任何人都能轻松设定和测量。
3、自动、批量、快速测量
(1)对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量;
对于复杂的工件,可以定工件的任意位置进行分段测量,并做成模板便于轮廓批量测量。
(2)CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行轮廓批量测量。
(3)自动保存测量结果,测量完成后可输出测量报告,形式多样。
SJ5730系列纳米探针式轮廓仪可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业, 该仪器可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测,是大曲面测量(轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子)领域精细粗糙度测量的利器。
典型应用
部分技术参数
型号 | SJ5730-100 | ||
轮廓参数 | 测量范围 | X轴 | 0~100mm |
立柱 | 0~300mm | ||
Z轴 | ±6mm(标准测针杆)(±12mm:选择两倍测针杆时) | ||
扫描速度(扫描轴) | 0.05~5mm/s | ||
直线度(扫描轴) | ≤0.2μm/100mm | ||
测量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(电子档位可调) | ||
粗糙度参数 | 适用Ra测量范围 | Ra0.012μm~Ra12.5μm(可选更大范围) | |
粗糙度测量参数 | R粗糙度: Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ; 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo; P轮廓参数: Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax; W波纹度轮廓参数: Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc; Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte; 符合标准: GB/T 3505-2009,ISO 4287:1997,ISO13565-2:1996,ASME B46.1-2002, DIN EN ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994, JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002。 | ||
滚子分析(选配) | 滚子凸度、位置距离、对数滚子母线、X镜像曲线重合度, 分段不同公差 | ||
仪器尺寸(长×宽×高) | 600×350×890(mm) | ||
仪器总重量 | 110Kg |
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