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中图仪器

深圳市中图仪器股份有限公司是一家高新技术企业,致力于全尺寸链精密测量仪器及设备的研发、生产和销售。

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中图仪器文章

  • 粗糙度轮廓仪一体机可以检测产品的表面参数2024-03-20 13:59

    粗糙度轮廓仪一体机具有广泛的适用性,可以满足各种行业对产品质量检测的需求。无论是汽车制造、航空航天、电子产品还是医疗器械,粗糙度轮廓仪一体机都能够提供高效、准确的质量检测解决方案。它不受产品材料、形状和尺寸的限制,可以适用于各种复杂的产品结构和工艺要求,为各行各业的制造商提供了强大的技术支持。
  • 轮廓测长|双向型轮廓仪全面测量分析螺杆参数2024-03-19 09:45

    螺杆是机械传动元件,在工程设计和生产中发挥重要作用。准确测量螺杆形状和尺寸对保证机械装配准确性、提高产品质量、确保机械性能稳定及延长使用寿命具有重要意义。SJ5700DUAL轮廓仪可测量多种几何量和内外尺寸工件参数,实现自动化、高效化测量,提高测量效率和准确性。
  • 轮廓测长|光学型轮廓仪专业检测光学镜片曲面2024-03-19 09:44

    精密光学元件制作中,粗糙度影响光学曲面质量。轮廓仪以高精度、自动化、多功能和数据分析能力,实现非球面镜片的专业检测,解读光学曲面变化。光学镜片曲面测量面临几何复杂性、表面反射和折射、尺寸材料挑战。SJ5900光学型轮廓仪提供自动化测量、数据分析,提高效率和一致性,准确检测微观轮廓参数,适用于各种光学元件要求,保障工艺一致性。
  • 2024展会预告|3月上海慕尼黑光博会,中图仪器展品提前看!2024-03-15 09:15

    慕尼黑上海光博会集中展示光电行业全方位产品,中图仪器将展示多种测量解决方案和国产自研三坐标测量机,涵盖显微形貌测量、一键式光学影像测量、接触式轮廓尺寸测量和位置与运动精度测量,助力制造业实现高质量产品。展会时间:3月20日-3月22日,地点:上海新国际博览中心W4馆4337。
    慕尼黑 测量 激光器 1487浏览量
  • 中图轮廓仪如何测量产品外轮廓尺寸2024-03-11 11:09

    准确测量产品外轮廓尺寸对确保产品质量、生产效率及用户体验至关重要。使用合适的测量工具如中图轮廓仪,遵循测量前的准备、测量步骤及注意事项,可提高测量准确性。处理和分析测量数据,有助于质量控制和产品改进。
  • 数控测量|利用机床测头提升加工中心精度,助力生产效率飞跃!2024-03-06 11:03

    机床测头是现代制造业的关键装置,能实时监控加工误差,提高精度和效率。其高精度测量、实时反馈和自动校准功能,确保加工质量稳定,提升生产效率。未来,机床测头将融入更多智能化技术,推动制造业数字化、智能化发展。
    探测头 机床 测控系统 1817浏览量
  • 精准制胜,WD4000无图晶圆几何量测系统为高质量晶圆生产保驾护航2024-03-05 08:09

    在晶圆制造前道过程的不同工艺阶段点,往往需要对wafer进行厚度(THK)、翘曲度(Warp)、膜厚、关键尺寸(CD)、套刻(Overlay)精度等量测,以及缺陷检测等;用于检测每一步工艺后wafer加工参数是否达到设计标准,以及缺陷阈值下限,从而进行工艺控制与良率管理。半导体前道量检测设备,要求精度高、效率高、重复性好,量检测设备一般会涉及光电探测、精密机
    晶圆制造 检测 测控 1754浏览量
  • 数控测量|激光干涉仪80米直测,诊断校准运动导轨2024-03-04 13:36

    在现代工业制造中,运动导轨作为精密设备的关键组件之一,其精密度和稳定性影响着设备的定位准确性和运动稳定性。为了保证导轨的高精度性能,激光干涉仪应运而生。校准运动导轨的重要性运动导轨的精度直接关系到整个设备的性能。在长时间运行和极端工况下,导轨可能会受到温度、振动等外部因素的影响,导致其性能逐渐偏离理想状态。通过激光干涉仪的诊断校准,可以及时发现并纠正这些偏差
  • 数控测量|激光干涉仪测量机床精度全面解析2024-03-04 13:35

    在机床加工领域,精度是评判机床质量的重要指标之一。而激光干涉仪是一种能够测量机床精度的高精度测量装置。它利用激光干涉现象来实现非接触式测量,具有高精度、高分辨率、快速测量等优点,在机床加工领域有着广泛的应用。了解机床精度的重要性机床精度直接影响着产品的质量和性能,它是制造业中至关重要的一个指标。在现代制造业中,随着对产品精度要求的不断提高,机床精度的重要性也
  • “芯”动未来,无图晶圆几何量测系统提升半导体竞争力2024-02-29 09:14

    无图晶圆几何量测系统,适用于线切、研磨、抛光工艺后,进行wafer厚度(THK)、整体厚度变化(TTV)、翘曲度(Warp)、弯曲度(Bow)等相关几何形貌数据测量,能够提供Thickness map、LTV map、Top map、Bottom map等几何形貌图及系列参数,有效监测wafer形貌分布变化,从而及时管控与调整生产设备的工艺参数,确保wafe
    半导体晶圆 晶圆 检测 1868浏览量