金鉴实验室

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• 发布了文章 2025-05-13 17:54

  详细解析AEC-Q102认证

  

  AEC-Q102是由汽车电子委员会（AEC）制定的车用光电器件可靠性标准，于2017年首次发布，并在2020年更新至RevA版本。该标准的核心目标是验证LED、激光二极管、光耦等光电器件在极端汽车环境（如温度、湿度、振动）下的长期稳定性和安全性，确保这些器件能够满足车载环境15年的使用寿命要求。AEC-Q102认证已成为汽车供应链的准入门槛，通过该认证的产品

  AEC 汽车电子 认证

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• 发布了文章 2025-05-12 15:44

  RoHS与ELV有什么差异？

  

  RoHS的标准RoHS（RestrictionofHazardousSubstances）是一项由欧盟立法制定的强制性标准，全称为《关于限制在电子电气设备中使用某些有害成分的指令》。该标准的核心目标是限制在电子电气产品制造过程中使用特定的有害物质，以减少对环境和人类健康的潜在危害。RoHS标准的应用范围RoHS指令涵盖了广泛的产品类别，包括但不限于大型家用电

  RoHS 电子电子

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• 发布了文章 2025-05-09 16:51

  案例解析||照明LED的失效模式问题及改善措施

  

  LED是一种直接将电能转换为可见光和辐射能的发光器件，具有耗电量小、发光效率高、体积小等优点，目前已经逐渐成为了一种新型高效节能产品，并且被广泛应用于显示、照明、背光等诸多领域。近年来，随着LED技术的不断进步，其发光效率也有了显著的提升，现有的蓝光LED系统效率可以达到60%，而白光LED的光效已经超过150lm/W，这些特点都使得LED受到越来越多的关注

  led 发光器件 失效模式

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• 发布了文章 2025-05-09 16:49

  AEC-Q102之推拉力测试

  

  在汽车智能化与电动化的浪潮中，光电半导体器件（如LED、激光雷达、光传感器等）的可靠性直接决定了车辆的安全性与性能。AEC-Q102作为汽车电子领域针对分立光电半导体的核心测试标准，其推拉力测试是评估器件机械强度的关键环节。推拉力测试的技术原理与标准要求推拉力测试旨在评估半导体器件内部连接结构（如键合线、焊点、端子）的机械强度，防止因振动、冲击或组装应力导致

  AEC 推拉力测试机 汽车电子

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• 发布了文章 2025-05-09 16:47

  透射电子显微镜（TEM）与聚焦离子束技术（FIB）在材料分析中的应用

  

  什么是透射电子显微镜（TEM）透射电子显微镜（TEM）是一种功能强大的分析工具，可分析各种合成材料和天然材料。它能够通过三种不同的分析技术获得固态样品的化学信息：能量色散X射线分析（EDX）、电子能量损失光谱（EELS）和高角度环形暗场成像（HAADF）。金鉴实验室配备先进的TEM设备，拥有经验丰富的操作团队，可为客户提供专业的材料分析服务。1.能量色散X射

  TEM 材料 离子束

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• 发布了文章 2025-05-08 14:30

  元器件失效分析有哪些方法？

  

  失效分析的定义与目标失效分析是对失效电子元器件进行诊断的过程。其核心目标是确定失效模式和失效机理。失效模式指的是我们观察到的失效现象和形式，例如开路、短路、参数漂移、功能失效等；而失效机理则是指导致失效的物理或化学过程，如疲劳、腐蚀、过应力等。通过失效分析，我们能够提出有效的纠正措施，防止同类问题再次出现，从而提高产品的可靠性和稳定性。失效分析的程序1.收集

  元器件 失效分析

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• 发布了文章 2025-05-08 14:26

  聚焦离子束技术：原理、应用与展望

  

  聚焦离子束技术（FocusedIonBeam，简称FIB）作为一种前沿的微观加工与分析技术，近年来在众多领域得到了广泛应用。金鉴实验室凭借其专业的检测技术和服务，成为了众多企业在半导体检测领域的首选合作伙伴。FIB技术的基本原理聚焦离子束技术的核心在于将特定元素（如镓元素）的离子化为带正电的离子（Ga+），并通过电场加速使其获得高能量。随后，借助静电透镜系统

  fib 检测 离子束

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• 发布了文章 2025-05-07 14:11

  AEC-Q102认证之器件可焊性

  

  可焊性测试在汽车电子中的关键地位在汽车电子行业，AEC-Q102标准为分立光电半导体元件的可靠性测试提供了全面而严格的规范。其中，可焊性测试作为核心环节之一，对于保障产品质量和性能发挥着至关重要的作用。汽车电子设备在运行过程中需要面对复杂多变的工作环境，如高温、高湿、振动等，而良好的可焊性是确保光电半导体器件与电路板之间实现可靠电气连接和机械固定的基础。只有

  AEC 汽车电子 认证

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• 发布了文章 2025-05-06 15:06

  雪崩二极管：汽车电子系统中的关键光检测元件

  

  雪崩二极管的原理与结构雪崩二极管（AvalanchePhotodiode，简称APD）是一种利用载流子雪崩倍增效应来放大光电信号的光检测二极管。其核心原理是利用载流子雪崩倍增效应来放大光电信号。在高反向偏压下工作时，光生载流子在强电场中获得足够的动能，与晶格碰撞产生新的电子-空穴对，从而实现载流子的雪崩倍增，显著增加电流增益。这种倍增效应使得APD在低光强条

  二极管 汽车电子 雪崩二极管

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• 发布了文章 2025-05-06 15:03

  聚焦离子束技术在透射电子显微镜样品制备中的应用

  

  聚焦离子束技术聚焦离子束（FocusedIonBeam，简称FIB）技术是一种先进的微观加工与分析手段，广泛应用于材料科学、纳米技术以及半导体研究等领域。FIB核心原理是利用离子源产生高能离子束，通常以镓（Ga）离子为主，部分设备还配备氦（He）或氖（Ne）离子源。离子束在轰击样品时，会产生溅射现象，从而实现材料的精准去除，同时通过二次电子信号获取样品的形貌

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