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深圳市安通泰达科技有限公司

供应电子测量仪器,射频仪器。

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泰克TEKTRONIXDSA71604B示波器16G

型号: DSA71604B

--- 产品参数 ---

  • 规格

--- 产品详情 ---

 

联系方式在主页中

产品介绍:
无可比拟的性能,更好地查看设计,地完成工作
DPO70000 和DSA70000 系列是新一代实时数字荧光示波器,为迎接设计人员在检验、检定、调试和测试复杂的电子设计时面临的棘手信号完整性问题提供了业内的解决方案。的DSA70000系列为迎接高速串行设计挑战提供了完整的解决方案。
该系列拥有的信号采集和分析性能、简单的操作和无可比拟的调试工具,加快了处理日常任务的速度。业内大的屏幕及直观的用户界面,可以方便地获得大数量的信息。
无可比拟的采集性能
泰克示波器的信号保真度确保对测量结果的信心
采用泰克专有的DSP 增强技术,在双通道、三通道或全通道中实现了匹配的高达20 GHz的带宽。在每条通道上用户可以选择使用DSP 滤波器,它提供了幅度和相位校正功能,并可把带宽扩展到20 GHz,以更准确地展现速信号。还可以在每条通道上关闭DSP 滤波器,利用真正担拟带宽优势,以快的采集速度满足捕获原始数据的应用需求
直到探头的带宽增强功能(Bandwidth Enhance),支持带宽步进调节,可以改变示波器带宽,准确地捕获瞬态信号,消除多余的频率成份和噪声的影响
在所有型号和所有通道上同时实现了高采样率,可以捕获更多的信号细节(如瞬态信号、系统缺陷、快速边沿)
12.5, 16和20 GHz型号在全部四条通道上实现了50 GS/s 的采样率
4, 6 和8 GHz 型号在全部四条通道上实现了25 GS/s 的采样率
低的抖动噪底和高的垂直精度,的测量精度"
应用
信号完整性、抖动和定时分析
验证、调试和检定完善的设计
对串行数据流进行满足电信和数据通信行业标准的调试和一致性验证
考察瞬态现象
频谱分析"
"主要特点和优点
在全部四条通道上同时实现
- 20, 16, 12.5, 8, 6和4 GHz带宽型号
- 高达50 GS/s 的实时采样率
- 高达200 M样点的记录长度,支持MultiView ZoomTM功能,迅速浏览信息
- 快的波形捕获速率,每条通道大波形捕获速率>300,000 wfm/s
多种数字串行分析仪型号,为高速串行设计和一致性测试提供了工具
直到探头端部的带宽增强功能,支持带宽步进调节,的信号完整性
Pinpoint® 触发技术,1400 种组合方式,满足几乎任何触发情况
的高达3.125 Gb/s 的串行码型触发,支持8b/10b协议触发,分离码型相关效应, NRZ 串行码型触发,分离速率高达6.25Gb/s
PCI Express, SATA, FB-DIMM, SAS,光纤通道, IEEE 1394b, RapidIO, XAUI,HDMI, DVI, 以太网和USB 2.0的串行
数据分析和一致性测试流行的抖动、定时和眼图分析软件包
DDR 存储器总线分析业内大的12.1"" XGA 触摸屏显示器事件搜索和标记功能便于事件相关性的观测
MyScope®定制窗口及鼠标右键弹出菜单,极其方便的操作,提高工作效率
OpenChoice® 软件,采用MicrosoftWindows XP操作系统,内置联网和扩展分析功能
无可比拟的性能,更好地查看设计,地完成工作
DPO70000 和DSA70000 系列是新一代实时数字荧光示波器,为迎接设计人员在检验、检定、调试和测试复杂的电子设计时面临的棘手信号完整性问题提供了业内的解决方案。的DSA70000系列为迎接高速串行设计挑战提供了完整的解决方案。
该系列拥有的信号采集和分析性能、简单的操作和无可比拟的调试工具,加快了处理日常任务的速度。业内大的屏幕及直观的用户界面,可以方便地获得大数量的信息。
无可比拟的采集性能
泰克示波器的信号保真度确保对测量结果的信心
采用泰克专有的DSP 增强技术,在双通道、三通道或全通道中实现了匹配的高达20 GHz的带宽。在每条通道上用户可以选择使用DSP 滤波器,它提供了幅度和相位校正功能,并可把带宽扩展到20 GHz,以更准确地展现速信号。还可以在每条通道上关闭DSP 滤波器,利用真正担拟带宽优势,以快的采集速度满足捕获原始数据的应用需求
直到探头的带宽增强功能(Bandwidth Enhance),支持带宽步进调节,可以改变示波器带宽,准确地捕获瞬态信号,消除多余的频率成份和噪声的影响
在所有型号和所有通道上同时实现了高采样率,可以捕获更多的信号细节(如瞬态信号、系统缺陷、快速边沿)
12.5, 16和20 GHz型号在全部四条通道上实现了50 GS/s 的采样率
4, 6 和8 GHz 型号在全部四条通道上实现了25 GS/s 的采样率
低的抖动噪底和高的垂直精度,的测量精度"

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