适用于数字 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 (AFE)
| Number of input channels | 256 |
| Resolution (Bits) | 16 |
| Features | Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray |
| Interface type | SPI/LVDS |
| Operating temperature range (C) | 0 to 85 |
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| Rating | Catalog |
- 256 通道
- 片上，16 位模数转换器 (ADC)
- 光电二极管抗短路
- 高性能：
- 噪声：750 个电子 RMS
（1.2pC 输入电荷范围） - 低相关噪声
- 积分非线性：
内部 16 位模数转换器 (ADC) 的 ±2 最低有效位 (LSB) - 扫描时间：
- < 20μs 至 204.8μs
- 噪声：750 个电子 RMS
- 集成：
- 六个可选满量程输入范围：
0.6pC（最小值）至 9.6pC（最大值） - 内部定时发生器 (TG)
- 内置相关双采样器
- 流水线式积分与读取提高了吞吐量：允许在积分过程中读取数据
- 串行低压差分信令 (LVDS) 输出
- 六个可选满量程输入范围：
- 简单电源方案：
- AVDD1 = 1.85V
- AVDD2 = 3.3V
- 低功耗
- 打盹模式和完全掉电模式
- 定制薄膜覆晶 (COF) 封装
应用
- X 射线平板探测器
- 电荷探测器
- 电容测量
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AFE2256 是一款 256 通道模拟前端 (AFE)，旨在满足基于平板探测器 (FPD) 的数字 X 射线系统要求。该器件包含 256 个积分器、1 个选择满量程电荷量的可编程增益放大器 (PGA)、1 个带有双存储区的相关双采样器 (CDS) 以及 256:4 模拟多路复用器。
此外，该器件还 具备 四个 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。来自 ADC 的串行数据采用低压差分信令 (LVDS) 格式。
打盹模式和掉电模式能够大幅降低功耗，这在由电池供电的系统中特别有用。
如需完整数据表或其他设计资源，请点击：请求获取 AFE2256
