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深圳市日图科技有限公司

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日置 直流耐压绝缘电阻测试仪 ST5680EOL

型号: ST5680EOL
品牌: HIOKI(日置)

--- 产品参数 ---

  • 型号 ST5680EOL

--- 产品详情 ---

主要功能

直流耐压测试、绝缘电阻测试、绝缘击穿电压测试、波形显示功能、ARC放电检测功能、接触检查功能 (详情请参照“各测试·功能”表)

功能一览联锁、自动放电、消除偏移、瞬时输出、命令监控、I/O HANDLER、按键锁定、自检、校准期限检测、EXT SW(远程控制)
使用温湿度范围0°C~40°C,80% RH或以下(无结露)
适合标准安全性:IEC 61010                
EMC:IEC 61326
电源电压AC 100 V ~ 240 V

功耗

约180 VA※                
※ 电源条件为电源电压220 V、电源频率 50/60 Hz、测试模式直流耐压测试、测试电压2.5 kV、负载电流5 mA负载电阻500 kΩ)的情况下。

最大额定功率

800 VA

接口

通讯:USB,LAN,EXT. I/O

选件:RS-232C(Z3001),GP-IB(Z3000)

存储:U盘

尺寸·重量

305(W)×142(H)×430(D)mm(不含突起物)
10.0 kg ± 0.2 kg

附件

电源线,CD-ROM(PDF:使用说明书,通讯使用说明书),EXT.I/O用公头连接器,EXT.I/O用连接器盖EXT.I/O用联锁解除治具,启动指南

各测试·功能

直流耐压测试输出电压:DC 0.050 kV ~ 3.000 kV(1 V分辨率)                  输出设置精度:±(1.2% of setting + 20 V)
                 输出电流/截止电流:20 mA max
                 电流精度(*1):3.00 mA <:±(1.5% rdg.+2 μA)≤ 3.00 mA:±1.5% rdg.
                 最小分辨率:0.001 μA
                 测试时间:0.1 s ~ 999 s,Continue(Timer OFF)
                 电压上升/下降时间:0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s,OFF
                 短路电流200 mA 以上
                 测试模式W→IR,IR→W,程序测试
绝缘电阻测试

输出电压:DC 50 V ~ 1000 V(1 V分辨率)

                 输出设置精度:±(1.2% of setting + 20 V)

                 电阻值显示范围:100.00 kΩ ~ 200.0 GΩ(0.01 kΩ分辨率)
                 精度保证范围:100.00 kΩ ~ 99.99 GΩ
                 电阻精度:±(1.5% rdg. + 3 dgt.)*详情参考下部表格
                 测试时间:0.1 s ~ 999 s,Continue(Timer OFF)
                  电压上升/下降时间:0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s,OFF

绝缘击穿电压测试

测试方法:连续升压测试,逐级升压测试
                 测量内容:绝缘击穿电压(kV),绝缘击穿的强度(kV/mm)
 

                 设定内容:初始电压,结束电压,升压速度,ARC检测,电极间距离,电流上限值

                 检测有效电压:150V以上

波形显示功能波形显示内容:电压,电流,绝缘电阻
                 采样速度:500 kS/s
                 内存容量:512 K words
ARC放电检测功能

检测方式:监视试验测试电压的变动
 

                 设定内容:测试电压变动率1%~50%

                 检测有效电压:150V以上

存储功能

·波形·图形
保存到U盘
保存格式:BMP、PNG、CSV文件

 

·面板保存功能
将测试条件保存在主机内存中
直流耐压测试模式/绝缘电阻测试模式:最多64个
程序测试:最多30个(最多50步)
绝缘击穿电压测试:最多10个

 

·数据存储功能
测量值保存在内存,最多32000个

判定功能(判定输出)判定为PASS,判定为FAIL(UPPER FAIL,LOWER FAIL)
UPPER_FAIL:测量值>上限值
PASS:上限值≥测量值≥下限值
LOWER_FAIL:测量值<下限值
注记(*1)

环境温度t不足5℃时加上±(1% rdg.×(5-t ) ) 

环境温度t超过35℃时加上±(1% rdg.×(t-35 ) )

绝缘电阻测量精度(*2)(精度保证测试电压范围:50 V ~ 2000 V)

测试范围100 kΩ ~ 99.99 GΩ
10 nA ≦ I ≦ 3 μA100 MΩ ~ 999.9 MΩ
1.00 GΩ ~ 99.99 GΩ
±(20% rdg.)
 
100 nA ≦ I ≦ 30 μA10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ
100.0 MΩ ~ 999.9 MΩ
±(5% rdg.)
 
1 μA ≦ I ≦ 300 μA1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ
10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ
±(2% rdg. + 5 dgt.)
 
10 μA ≦ I ≦ 3 mA100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ
1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ
±(1.5% rdg. +3 dgt.)
 
100 μA ≦ I ≦ 20 mA100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ±(1.5% rdg. +3 dgt.)
 
注记(*2)

· 测试电压为50 V〜99 V时,测量精度加算±10%

· 测试电压为100 V〜999 V时,测量精度加算±5%

· 测试电压为1000 V〜2000 V时,测量精度加算±2%

· 环境温度t小于5℃时,加上测量电流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) ),或者加上测量电流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) ) 

· 环境温度t超过35℃时,加上测量电流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) ),或者加上测量电流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) )

· 测定速度为FAST2时,测量精度加倍

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