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半导体芯片剪切力测试机-86002023-11-16 18:07
产品型号：LB-8600 XY轴丝杆有效行程：100mm*100mm 可拓展至200mm*200 XY轴大移动速度：6mm/S XY轴丝杆精度：：重复精度±5um 分辨率≤0.125 ： Z轴丝杆有效行程：：100mm 分辨率≤0.125um,大测试 Z轴大移动速度：：采用霍尔摇杆对Z轴自由控制，大移动速度为8m -
高精度半导体芯片推拉力测试仪免费测样品2023-08-22 17:54
产品型号：lb-8100A 传感器精度：±0.003% 测试精度：±0.25% 测试范围：配置不同量程测试模块 工作方式：推针及拉针180度垂直测试 传感器更换方式：手动更换测试模组 -
博森源多功能推拉力测试机2023-05-30 15:12
产品型号：lb-8600 外型尺寸：680*580*710(含左右摇杆) 设备重量：95KG 电源供应：110V/220V@4.0A 50/60HZ 压缩空气：4.5-6Bar 真空输出：500mm Hg