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芯茂(嘉兴)半导体科技有限公司

芯茂(嘉兴)半导体科技有限公司是一家专注于半导体装备本土化制造的高科技公司。

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晶圆表面缺陷检测仪

型号: YIS200;YIS300

--- 产品参数 ---

  • 検査内容 平坦度、DIMPLES 、Mound、Sawmark、Ori
  • 使用光源 550nmFiltering
  • 検査区域 φ200mm以下~φ450mm
  • 検査倍率 3倍模式切换
  • 検査時間 瞬時影像输出
  • 外形寸法 600(W)X1008(D)X1630(H)mm
  • 電 源 AC 100V 50/60Hz MAX.3A

--- 产品详情 ---

           表面欠陥検査装置「魔鏡」

       本设备应用魔镜的原理,高灵敏度地检查镜面样品的表面状态。可以高灵敏度地检测样品表面上的不均匀性,翘曲,抛光不均匀性等,检测结果在监视器上用亮度(白)和暗度(黑)表示。检查可以在非接触和非破坏性的情况下进行,并且可以立即确认样品的表面状态。这是一款使用免维护光学系统,可操作性优异的设备。

     原理: 基于事前所设定的缺陷判断的阈値,使所取得的图像,缺陷种类的判别,缺陷部位的可视化,位置坐标算出,缺陷尺寸表示等进行自动解析,可在界面针对数据,对缺陷进行逐一观测。

特長                                                                                用途
1.所有的表面状态都是即时的。                                  ○镜面晶圆的表面检查
2.我们的光学系统对应是1级的。                                ○滑移线的检查
3.光学系统是免维护的。                                            ○玻璃基板的检测
4.根据检查内容,检测灵敏度/检测放大率                   ○其他镜面基板的检测
                                                                                     ○Film等的基板以外的检查
5.根据每个样品和检查位置定制最佳光学系统。

 

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