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• 发布了文章 2022-07-23 07:43

  解决方案|半导体晶体生长测温

  

  场景半导体晶体生长测温要解决的问题还原炉应用中，需多点位测温，有的点位位置较高对准目标比较困难。升温过程中，材料状态可能发生变化，导致发射率随之发生变化导致测温失准。建议使用双色测温仪。直拉法应用中，一般集成于内部温控系统，安装空间有限。建议使用分体光纤式设备。需透视窗测量反应物。建议使用近红外短波测温。场景特点SCENEFEATURES01反应温度需维持在

  半导体

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• 发布了方案 2022-07-21 13:09

  半导体红外测温|IMPAC红外测温仪解决方案

  

  半导体晶体生长测温要解决的问题还原炉应用中，需多点位测温，有的点位位置较高对准目标比较困难。需透视窗测量反应物。建议使用近红外短波测温。直拉法应用中，一般集成于内部温控系统，安装空间有限。建议使用分体光纤式设备。升温过程中，材料状态可能发生变化，导致发射率随之发生变化导致测温失准。建议使用双色测温仪半导体氧化扩散测温要解决的问题测温设备集成于设备内部，对准目标有些许困难需透视窗测温，需考虑测温仪响

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• 发布了产品 2022-07-21 10:55

  半导体红外测温仪|impac红外测温仪

  

  产品型号：IGAR 6 Smart 测温范围:：100-2550 °C ；250- 2550°C 子范围:：任何温度范围内可调范围，最小量程50°C 发射率：：0.050 到 1.000 ，0.001调节(单色模式)

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