广电计量

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• 发布了产品 2024-01-29 21:57

  集成电路,芯片开封测试,芯片质量评估

  

  产品型号：IC芯片开封试验 服务区域 ：全国 服务资质 ：CNAS、CMA 服务周期：常规5-7个工作日

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• 发布了产品 2024-01-29 21:50

  aec-q200,车规元器件全系认证服务,全项检测

  

  产品型号：AEC-Q200产品测试 服务区域：全国 服务周期：2-3个月，提供全面的认证计划、测试等服务 发票：可提供

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• 发布了产品 2024-01-29 21:47

  车规级多芯片模块车规AEC-Q104认证

  

  产品型号：AEC-Q104认证测试 服务区域：全国 服务周期：2-3个月，提供全面的认证计划、测试等服务 发票：可提供

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• 发布了产品 2024-01-29 21:43

  aec-q100认证,车规元器件全系认证服务,全项试验项目

  

  产品型号：AEC-Q100认证试验 服务区域：全国 服务周期：3-4个月，提供全面的认证计划、测试等服务 测试项目 发票：可提供

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• 发布了产品 2024-01-29 21:38

  aec-q102认证中心,AEC-Q车规认证机构

  

  产品型号：AEC-Q102产品试验 服务区域：全国 服务周期：2-3个月，提供全面的认证计划、测试等服务 发票：可提供

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• 发布了产品 2024-01-29 21:35

  AEC-Q101分立半导体器件车规级认证可靠性测试

  

  产品型号：AEC-Q101认证试验 服务区域：全国 服务周期：2-3个月，提供全面的认证计划、测试等服务 发票：可提供

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• 发布了文章 2024-01-16 15:20

  专家访谈丨中国“芯”饱受良率之痛，芯片制造该如何破局？

  

  芯片被称为信息产业的粮食和“大脑”，是信息社会的基石，在信息化、智能化不断加快的今天，芯片已经成为战略性、基础性产业。可以说，芯片作为支撑中国经济持续高质量发展、特别是支撑战略性新兴产业崛起，其地位更是无可替代。然而，芯片制造是一项极为复杂和精细的工艺，很多重要环节都需要精密的检测手段发现缺陷。

  半导体 失效分析 芯片 芯片制造

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• 发布了文章 2024-01-11 08:49

  关于电子元器件空间辐射单粒子效应的考核

  

  宇宙遍布着各种高能量的辐射粒子，这些粒子会对元器件带来影响，如何进行抗辐射设计成为了工程师针对逻辑类数字电路、存储器以及某些功率器件的一个必要考量。

  半导体 失效分析 电子元器件

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• 发布了文章 2024-01-09 17:33

  热管理解决方案 | 容易被忽略的能耗降低策略——流阻试验/压降试验

  

  通过流阻试验或压降试验可验证介质种类、温度、流速等参数与流道系统的关系，探究实际运行过程中系统的流阻及压降情况，可助力产品结构设计优化及工况运行优化，提高流体的流动效率，降低运行过程中无效能量消耗，保证系统运行的安全性。

  热管理 电池

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• 发布了文章 2023-12-27 22:42

  电子产品可靠性评价方法：MTBF可靠性评价介绍

  

  在推出新产品时，客户经常询问产品的可使用年限以及如何确保用户能够正常使用若干年（如三年以上)。以每天使用10小时为例，产品需要保证三年使用期间内11000小时无故障。特别是在产品设计、验证和推广阶段，产品设计方特别关注产品的可靠性期限问题。

  MTBF 检测 电子产品

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