原位透射电子显微镜测试
型号:
204
测试服务介绍:
加速电压:200kV
TEM点分辨率:0.25nm,
线分辨率:0.14nm,
信息分辨率:0.12nm
STEM分辨率:0.16 nm
放大倍数:25~1500000(TEM), 150~2300000(STEM)
Super-XEDS能谱仪系统的能量分辨率:136 eV。