微电子器件检测
型号:
199
测试服务介绍:
1.电学性能测试
·▪直流参数:漏电流(1nA-10μA)、击穿电压(5-1000V)、导通电阻(0.1mΩ-10kΩ)、队值电压(0.5-5V) 1
·▪交流参数:传输延迟、建立保持时间、S参数、噪声系数 2
2.可靠性测试
包括高温高湿老化(85℃/85%RH)、温度循环(-65℃~150℃)、静电放电(HBM 500V-8kV)等,适用于航空航天、汽车电子等高风险领域。
检测标准:
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005