高温反偏老化系统
型号:
158
定义
高温反偏老化系统是一种用于半导体功率器件(如二极管、MOSFET、IGBT、肖特基势垒二极管等)的加速寿命试验设备与测试系统,其工作原理是在器件处于高温环境(通常为 125℃ ~ 175℃)和反向偏置电压(接近或等于其额定击穿电压)的双重应力条件下,持续运行数十至数百小时,以加速暴露器件在长期工作过程中可能出现的漏电流增大、反向击穿电压漂移、钝化层缺陷、金属-半导体接触退化等潜在失效机制。
该系统通过施加高温与高反压的协同应力,激发器件内部的电化学反应与材料退化过程,从而筛选出早期失效品,验证器件在恶劣工况下的长期可靠性,广泛应用于汽车电子、新能源、工业控制、航空航天等领域。
测试服务介绍;
1.老化时间 : 1min ~ 5000h
2.试验能力:共 16 个区,每个区 40 个通道 老化工位 16×80=1280
3.电压测试范围 :0 ~ 2000V
4.漏电流测试范围 :1µA ~ 50mA
5.直流老化电源 :100V/12A、300V/4A、 600V/2A、1500V/1A