日置IM3536是一款高频LCR测试仪，支持DC至8MHz宽频测量，具备±0.05%精度和1ms高速测试特性，广泛应用于电子元件研发与产线检测。 日置IM3536核心参数 测量范围：DC、4Hz至8MHz，覆盖主流电子元件测试频段。 1 2 精度与速度：±0.05%基本精度，最快1ms单次测量。 1 2 低阻测量：1mΩ以上精度保证，支持DC偏压模拟工况测试。 1 2 数据存储：内置32000组数据存储，支持USB导出分析。 3 日置IM3536应用场景 电容器评估：依据JIS标准测量电解电容/陶瓷电容随频率/电压变化的容值特性。 1 2 电源电感测试：8MHz高频特性适配下一代电源元器件开发。 3 4 产线兼容性：标配治具需额外选配，支持快速切换测试条件适配产线需求
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