E4991A 射频阻抗/材料分析仪E4991A 射频阻抗/材料分析仪
基本精度基本精度 +/-0.8%
扫描参数频率：1 MHz 至 3 GHz
振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArmsDC
偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA更多特性Windows
风格的用户界面内置 VBA
编程功能通过 LAN 接口进行数据传输E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。
它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，
帮助他们进行研发工作。
与反射测量技术不同，
E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，
可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。
基本阻抗精度是 +/-0.8%。
高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。
内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。
材料评估E4991A 提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，
涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。
晶圆测量借助E4991A-010 探针台连接套件，
您可轻松地地将 Keysight E4991A 连接到射频探头系统
（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。
