武汉普赛斯仪表有限公司

动态

• 发布了方案 2024-06-07 11:28

  普赛斯仪表 | 创新技术突破,激光器老化测试系统解决方案

  

  大功率激光器在光束质量、工作效率、结构体积、寿命和系统维护等方面具有明显的优势。但与此同时,由于单颗芯片出光功率大，单位面积产生的热量大，如果不做好散热技术，将直接影响半导体激光器输出功率、阈值电流密度、电光转化效率、微分量子效率、偏振度等性能，并导致半导体激光器寿命和可靠性的下降，甚至会损毁芯片，最终影响器件可靠性。在交付使用之前需要将激光器芯片置于高的温度和电流等极端操作条件下进行寿命和可靠性

  激光器 老化测试

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• 发布了方案 2024-06-07 11:06

  普赛斯仪表 | 普赛斯电流传感器测试解决方案

  

  电流传感器依据测量原理不同，主要可分为：分流器、电磁式电流传感器、电子式电流传感器、TMR磁传感器等。电子式电流传感器包括霍尔电流传感器、罗柯夫斯基电流传感器及专用于变频电量测量的变频功率传感器(可用于电压、电流和功率测量)等。霍尔电流传感器与TMR磁传感器，都是是利用霍尔效应而制成的一种非接触式传感器。霍尔效应，是一种磁场和感应电压之间的关系。当电流通过一个位于磁场中的导体的时候,磁场会对导体中

  电流传感器 霍尔传感器 霍尔效应 霍尔电流传感器

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• 上传了资料 2024-06-07 10:36

  普赛斯仪表 | 电流传感器特性参数测试解决方案

  传感器 电流传感器 霍尔效应

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• 上传了资料 2024-06-07 09:17

  普赛斯仪表 | 大功率激光器老化测试解决方案

  激光器 老化测试

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• 发布了方案 2024-06-06 16:19

  普赛斯仪表 | 二极管/三极管/MOS管电性能测试解决方案

  

  实施半导体分立器件特性参数分析的最佳工具之—是数字源表(SMU)。数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器、波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。解决了传统多台测试仪表之间编程、同步、接线繁杂及总线传输慢等问题。常见测试半导体分立器件包含大量的双端口或三端口器件，如二极管、晶体管、场效应管等。

  IV测试 MOS管 三极管 二极管 数字源表

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• 上传了资料 2024-06-06 16:07

  普赛斯仪表 | 半导体分立器件电性能测试解决方案

  IV测试 MOS管 三极管 二极管 数字源表

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• 上传了资料 2024-06-06 16:05

  普赛斯仪表 | 半导体电阻式传感器特性分析解决方案

  IV测试 压敏电阻 数字源表 气体传感器 气敏电阻

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• 上传了资料 2024-06-06 16:03

  普赛斯仪表 | VCSEL窄脉冲LIV测试解决方案

  VCSEL 数字源表

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• 发布了方案 2024-06-06 15:43

  普赛斯仪表 | 气敏电阻/压敏电阻特性分析解决方案

  

  利用源表SMU可以灵活的进行电阻测量I-V测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应。根据待测器件(DUT)的不同，信号电平可能相当低,需要高灵敏度源和测量仪器及测试技术，最大限度地减少误差的外部来源，而且需要有快的测试速度和高的测试可靠性做保证。气敏电阻/压敏电阻I-V特性测试传统需要几台仪器完成，如数字表、电压源、电流源等。然而，由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、

  IV测试 压敏电阻 数字源表 气体传感器 气敏电阻

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• 发布了方案 2024-06-06 14:26

  普赛斯仪表 | VCSEL窄脉冲LIV测试解决方案

  

  VCSEL常见测试参数特性分析VCSEL器件广泛应用于3D人脸识别和距离传感。当VCSEL阵列用于TOF模组，特别是激光雷达一类的dTOF系统时，VCSEL在窄脉冲情况下的峰值功率、工作电流、工作电压、转化效率、近远场光学特性等参数对于芯片供应商、封装服务商、模组集成商等都非常重要。VCSEL和VCSEL阵列，包括各种激光二极管标准检测的关键电性能技术参数，常见如激光二极管正向压降(VF)、Kin

  VCSEL 测试 脉冲测试

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