中图仪器

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• 发布了产品 2025-05-26 15:59

  高品质三坐标设备

  

  产品型号：Mars系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2025-05-26 15:58

  HiADM测距技术激光跟踪仪

  

  产品型号：GTS系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2025-05-26 15:56

  SEM电镜扫描仪器

  

  产品型号：CEM3000系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2025-05-23 14:53

  白光形貌干涉仪

  

  产品型号：SuperViewW系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2025-05-23 14:50

  国产AI全自动影像仪

  

  产品型号：Novator系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2025-05-23 14:45

  加工中心机床测头

  

  产品型号：PO系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2025-05-23 14:40

  高精度三坐标快速扫描测量系统

  

  产品型号：Mars系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2025-05-23 14:34

  六自由度激光跟踪仪

  

  产品型号：GTS系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2025-05-23 14:31

  中图纳米成像扫描电镜

  

  产品型号：CEM3000系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了文章 2025-05-23 14:27

  wafer晶圆几何形貌测量系统：厚度(THK)翘曲度(Warp)弯曲度(Bow)等数据测量

  

  在先进制程中，厚度(THK)翘曲度(Warp)弯曲度(Bow)三者共同决定了晶圆的几何完整性，是良率提升和成本控制的核心参数。通过WD4000晶圆几何形貌测量系统在线检测，可减少其对芯片性能的影响。

  厚度测量 数据测量 晶圆制造 翘曲度

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