中图仪器

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• 发布了产品 2024-06-03 14:21

  中图仪器Novator三轴全自动编程检测影像仪

  

  产品型号：Novator系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2024-06-03 14:19

  工业测量显微镜材料表征3d共聚焦形貌显微镜

  

  产品型号：VT6000系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2024-06-03 10:04

  PO系列cnc机床用在线测头系统

  

  产品型号：PO40 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2024-06-03 10:03

  VX8000系列一键图像尺寸测量闪测仪

  

  产品型号：VX8000系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2024-06-03 09:58

  SuperViewW光学三维表面轮廓形貌仪

  

  产品型号：SuperViewW1 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了文章 2024-06-01 08:08

  国家市场监督管理总局计量司副司长刘洪彬一行莅临中图仪器调研指导工作

  

  5月29日下午，国家市场监督管理总局计量司副司长刘洪彬、计量司一级调研员刘国传一行莅临深圳市中图仪器股份有限公司调研指导工作，广东省市场监督管理局计量处处长郭幸妮，深圳市市场监督管理局副局长李军、计量认证处处长郭力军，北京市计量检测科学研究院副院长张琳等有关领导专家陪同调研。中图仪器董事长马俊杰对刘洪彬副司长一行的到来表示热烈欢迎。调研组首先来到公司展厅参观

  测量仪 激光跟踪仪 轮廓测量仪

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• 发布了文章 2024-06-01 08:08

  WD4000系列晶圆几何量测系统：全面支持半导体制造工艺量测，保障晶圆制造工艺质量

  

  晶圆面型参数厚度、TTV、BOW、Warp、表面粗糙度、膜厚、等是芯片制造工艺必须考虑的几何形貌参数。其中TTV、BOW、Warp三个参数反映了半导体晶圆的平面度和厚度均匀性，对于芯片制造过程中的多个关键工艺质量有直接影响。TTV、BOW、WARP对晶圆制造工艺的影响对化学机械抛光工艺的影响：抛光不均匀，可能会导致CMP过程中的不均匀抛光，从而造成表面粗糙和

  半导体 晶圆 芯片制造

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• 发布了产品 2024-05-31 10:36

  精密桥式中图仪器三坐标测量机

  

  产品型号：Mars系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2024-05-31 10:35

  半导体晶圆Warp翘曲度量测设备

  

  产品型号：WD4000系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2024-05-31 10:32

  轮廓测量仪凸轴粗糙度一体机

  

  产品型号：SJ5800系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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