平面互补场效应晶体管工艺流程
典型的现代平面CMOS 逻辑芯片的结构（以 45nm/28nm 节点为例）如图所示。
典型的衬底是p型硅或绝缘体上硅（SOI)，其直径为 200mm 或300mm；在多层铜互连中，最上面两层金属较厚（常被用于制造电感或电容)，顶层的铝层用于制造封装用的键合焊盘。局部放大图显示了 MOS 场效应晶体管的多晶硅和硅化物栅叠层、高K栅介质、轻掺杂（LDD） 或源漏扩展区、外延生长应变硅源漏等细节。
CMOS 场效应晶体管（28nm 节点）的特征包括钴或镍硅化物多晶硅栅叠层、氮氧化硅或高k材料（氧化铪）栅介质、多层(Oxide-Nitride-Oxide, ONO）侧墙、轻掺杂（LDD） 或源漏扩展结 (S/D Extension）和镍硅化物 S/D 深结。
内部核心逻辑电路的场效应晶体管的典型工作电压为 0.9~1.1V，沟道长度为 30~40nm，栅介质等效氧化硅厚度为 1.5~2nm， S/D 扩展结厚度为 15~20nm。I/0 电路(连接外围芯片的接口）场效应晶体管的典型工作电压是 1.5V、1.8V 和2.5V，相应的沟道长度为 100~200nm，栅介质厚度为3~6nm，S/D 扩展结厚度为 25~30nm。
核心逻辑电路较小的工作电压是为了减小操作功耗。在 45nm/28nm CMOS节点都采用了沟道工程，通过沿场效应晶体管沟道方向施加应力来增强迁移率（如针对 n-MOS 沟道中电子施加张应力和针对p-MOS 沟道中空穴施加压应力)。 28nm CMOS 节点都采用了 SiGe 应变硅外延 S/D (用于p-MOS）和应力记忆技术（用于n-MOS)。
在28nm/20nm 及以下的节点还采用了新的模块技术，如新的高k介质和金属栅叠层，双应力 SiC 或 Si ：P 外延与应力记忆技术（用于n-MOS 源漏）。在16nm/ 14nm/10nm/7nm 及以下的更先进节点，都采用子非平面沟道器件 FinFET。 现代平面 CMOS 场效应晶体管和金属互连的制造工艺流程如图所示。
以平面 CMOS 28nm 节点为例，其制造工艺流程如下所述。
（1）形成浅槽隔离 STI，然后形成n阱区城（用于 pMos）和p阱区域（用于nMOS)，分别对阱区域进行选择性注入掺杂。
（2）生长n-MOS 和 p-MOS 栅氧化层，形成多晶栅叠层和图形化，再氧化以保护多晶栅叠层的边缘，然后形成补偿侧墙来调整 n/p MOS LDD 的位置。
（3）形成锗硅（SiGe）外延p-MOS 的源漏；再形成n-MOS 的源漏，并进行应力记忆技术和源漏注入掺杂。
（4) 形成镍硅化物，沉积层间介质层 （ILD）后，通过图形化，刻蚀和钨栓塞（W-Plug）填充形成接触孔。至此，n-MOS 和 p-MOS 晶体管己经形成。
（5） 通过单镶嵌技术形成第一层铜 M1，其他的互连通过双镶嵌技术来实现。通过重复双镶嵌技术实现多层互连。最顶层的两个金属层和铝层用于制造无源器件和键合焊盘。
在图2所示的工艺流程中，步骤 1至步骤7统称为前段工艺（FEOL)，步骤8和步骤9统称为后段工艺 (BEOL)。
审核编辑：刘清