C8051F120/C8051F121/C8051F123/

C8051F120/C8051F121/C8051F123/C8051F124/C8051F125/C8051F126/C8051F127和C8051F13x 系列器件是完全集成的混合信号片上系统型MCU 芯片，具有64 个数
字I/O 引脚（100 脚TQFP 封装）或32 个数字I/O 引脚（64 脚TQFP 封装）。下面列出了一些主要特
性；有关某一产品的具体特性参见表1.1。
􀁹 高速、流水线结构的8051 兼容的CIP-51 内核（100MIPS 或50MIPS）
􀁹 全速、非侵入式的在系统调试接口（片内）
􀁹 真正12 位或10 位、100 ksps 的ADC，带PGA 和8 通道模拟多路开关
􀁹 真正8 位500 ksps 的ADC，带PGA 和8 通道模拟多路开关（仅C8051F12x）
􀁹 两个12 位DAC，具有可编程数据更新方式（仅C8051F12x）
􀁹 2 周期的16 x 16 乘法和累加引擎（仅C8051F120/1/2/3 和C8051F130/1/2/3）
􀁹 128KK 或64KB 可在系统编程的FLASH 存储器
􀁹 8448（8K+256）字节的片内RAM
􀁹 可寻址64KB 地址空间的外部数据存储器接口
􀁹 硬件实现的SPI、SMBus/ I2C 和两个UART 串行接口
􀁹 5 个通用的16 位定时器
􀁹 具有6 个捕捉/比较模块的可编程计数器/定时器阵列
􀁹 片内看门狗定时器、VDD 监视器和温度传感器
具有片内VDD 监视器、看门狗定时器和时钟振荡器的C8051F12x 和C8051F13x 器件是真正能
独立工作的片上系统。所有模拟和数字外设均可由用户固件使能/禁止和配置。FLASH 存储器还具
有在系统重新编程能力，可用于非易失性数据存储，并允许现场更新8051 固件。
片内JTAG 调试电路允许使用安装在最终应用系统上的产品MCU 进行非侵入式（不占用片内资
源）、全速、在系统调试。该调试系统支持观察和修改存储器和寄存器，支持断点、观察点、单步及
运行和停机命令。在使用JTAG 调试时，所有的模拟和数字外设都可全功能运行。
每个MCU 都可在工业温度范围（-45℃到+85℃）工作。端口I/O、/RST 和JTAG 引脚都容许
5V 的输入信号电压。有100 脚TQFP 封装和64 脚TQFP 封装。表1.1 列出了每个器件的特性和封装。
图1.1 ~ 图1.6 给出了每种器件的功能框图。