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从RE到RSE:聊聊无线产品EMC认证测试中的辐射项(下)

英利检测 2023-05-29 06:00 次阅读

当无线产品开启个人通信时代之际,EUT这个载体变了,辐射发射测试标准要不要变?怎么变?

回答这个问题的不再是ANSI和CISPR,而是联合国下属机构国际电信联盟无线电通信部门(ITU-R)以及著名的移动通信组织3GPP(第三代合作伙伴计划,3rd Generation PartnershipProject)。

一、

不走寻常路的ITU-R

ITU-R另辟蹊径,提出了一种新的辐射发射测试思路,它不再基于RE双线模型,也不再测量到达接收天线处的噪声大小,而是直接测量噪声源的大小。

ITU-R在参考建议文件Rec. ITU-R SM329中,系统地讨论了发信机骚扰发射测量的方法。这是一个射频测量的总体方案,不仅针对产品整体的辐射发射,也针对射频端口的传导发射。

杂散域

SM.329最重要的内容,是引入了杂散发射(SpuriousEmission)的概念。它按照距离主频信号中心频点的远近,将整个测量频段划分成三个域(domain):工作域,带外域和杂散域。主频信号中心频点f0,工作带宽(或占用的信道带宽)为B,以f0为基准,+/-2.5B以外的频率范围都是杂散域(Spurious domain)。频率落在杂散域内的无用信号,被称作杂散信号。

get?code=OTIxMTNmYTRhZWI1MjUzZjNiZTI5ZDAzMzJjM2VmNTIsMTY4NTA2OTQzNTM2Mw==

(SM.329中对三个域的定义)

替代法测量

SM.329中另外一个非常关键的内容,是提出了用替代法测量辐射发射。简单来说,就是在同一个位置上,用信号源加上发射天线(增益已知)替换EUT,通过调节信号源的输出,使得测量仪器上得到的读数与测量EUT时的读数相同,一个频点接一个频点测量下去,那么每个频点上EUT辐射骚扰的大小,都可以通过信号源的输出功率和天线的增益推算出来。这个思路后来演化成为搭建RSE测试系统时必须要做的路径损耗(Tranducer)校准。

get?code=YjAxNjI3ZGEwMWQ4Zjk0MGY2MjY4NTFhNjQzNDFmNTAsMTY4NTA2OTQzNTM2NA==

(ITU-R SM.329-10,替代法测量辐射杂散)

让人抓狂的SM.329

SM.329中有不少模棱两可的地方,比如讨论杂散信号的测量单位时,指出测试结果可以使用:

  • 场强,度量单位µV/m或dB(µV/m)或A/m或dB(µA/m)
  • 功率(e.r.p或e.i.r.p),度量单位W或mW或dBW或dBmW
  • 功率谱密度pdf,度量单位W/m2或dB(W/m2)

(有点晕,到底用哪个~)

关于测试场地,SM.329说,30MHz~1GHz频段内,还是要用OATS和半电波暗室滴,至于其它的测试场地,像全电波暗室、混响室、TEM这些能不能用来测辐射杂散,以后再讨论……

(当年看到这儿,我内心是崩溃的:1GHz以下用半电波暗室??那天线要不要上下扫描?公司现在测RSE用的就是全电波暗室,你告诉我说能不能用还待定~ T_T)

最早读SM.329的时候,我经常会冒出冲动想抓着写这标准的大牛问个清楚。后来才慢慢有点明白,SM.329是参考建议文件,它负责提出各种可能,具体细节还需要产品类的标准去落实。

这个任务落在了3GPP身上。

二、

劳模3GPP

按照ITU-R规划的道路,以勤奋著称的3GPP开始埋头苦干,在针对不同移动通信制式分别制定的测试标准中,进一步规定了两种类型的杂散发射测试:

  • 将位于射频链路与EUT天线之间的天线接头作为测试参考点,测量从射频发射链路输出的杂散信号幅度。即传导杂散测试
  • 将EUT看做一个黑盒(enclosure),测量天线接收整个黑盒对外的杂散发射,而不区分哪些是从手机天线辐射出的噪声,哪些是从其它部分辐射出的噪声。即辐射杂散测试(Radiated Spurious Emission,RSE)

3GPP根据ITU-R SM.329里对杂散域的定义,详细规定了对不同移动通信制式做RSE测试时的RBW设置;给定了不同测量频段上的限值;将测量结果确定为功率值,单位dBm;将测试场地确定为全电波暗室;和通常的射频功率测试一样,测量仪器为频谱仪,基本采用PK检波。

全电波暗室

前面已经提到过全电波暗室(FullyAnechoic Room,FAR),FAR是在半电波暗室的地面上加铺一层吸波材料,消除掉地面反射,形成一个没有任何反射的电磁波传播环境。FAR模拟自由空间,由于没有地面反射路径的存在,到达接收天线处的只有直射波。接收天线不再需要上下扫描寻找噪声最大值。

RSE的测量参考点在EUT的相位中心上——而RE的测量参考点在接收天线的相位中心。这个区别决定了在满足远场条件下,RSE测量结果实际上与测试距离无关。我们可以在任意距离(满足远场条件)下,利用替代法测量RSE。

到这里,我们可以停下来对RSE测试再划个重点:

  • 测量场地为FAR
  • 测量仪器为频谱仪
  • 测量参考点在EUT处,测量结果是功率值(dBm)
  • 用替代法测量时不需要规定测试距离(需要满足远场条件)
  • 测量天线无需上下扫描
  • 大部分情况下采用PK检波
  • 场地检验采用SVSWR法

谁的地盘

从RSE的定义可以看出,RSE测量的不仅仅是发信机搞出来的噪声,它覆盖的是整个杂散域,既包含有意发射,也包含EUT中与发信机无关的其它电路的无意发射。

3GPP标准颁布以后,RSE测试成为衡量无线产品EMI性能的重要测试。与此同时,不难发现,RE和RSE测试的考察范围存在着重叠……

(RE测试:你,你抢我地盘~ RSE测试:怪我咯~)

那么该如何给无线产品的RE测试寻找合适的定位呢?

欧盟无线产品标准EN301489系列中,将RE测试明确定义为测量EUT的无意发射,当测到的骚扰噪声来自发信机时,即使超标也会被忽略不计。同时,传统ITE时代RE测试关注线缆等附件的做法也被继承下来,在无线产品的RE测试中,EUT需要带上充电器、耳机等附件,重点考察整体的辐射发射性能——测试甚至可以在EUT不建立通信链接的情况下进行。

三、

回到上期文章开头的那两张图。

测量单位和限值暴露了这两张图的身份——第一张是RSE测试,第二张是RE测试。亲您答对了吗?

不光测试结果看起来相似,实际操作中,RE测试和RSE测试的测试布置往往在外表上看来也傻傻分不清楚:

  • 在有些公司的研发测试中,为了加快测试,降低成本,1GHz以下的RE测试也在全电波暗室中进行,仅将测量结果换算到半电波暗室;
  • 搭建RSE测试系统的时候,通常采用替代法校准得到固定测试距离下的路径损耗(Tranducer),在这之后,RSE测试就不用再费劲地用替代法一个频点一个频点地测量,而是在保持固定测试距离(例如3m)的情况下扫频进行

。。。

结果就是,我们表面上看到的RE和RSE测试,越长越像……

get?code=NzBhMDg3ZjUxZDA5NWUzOTE5ZGJiZTdmOWRiNTQ3NWMsMTY4NTA2OTQzNTM2NA==

(猜一猜,这是RE测试?还是RSE测试?答案在文末)

结语

我们用了两期的篇幅来分别讲述无线产品的RE测试和RSE测试,如果把它们的细节放在一起,不难发现,RSE在测试时间、暗室空间和建造成本以及考察的全面性上,要优于RE测试——以至于ETS和R&S后来都推出了用于RSE预测试的小型屏蔽箱。

疑问自然而生:为什么针对无线产品还需要两个测试项?为什么不在RSE测试中,也将EUT带上附件,然后取消RE测试呢?

这也是我一直以来的疑惑。

在这里,说说我的看法,希望可以抛砖引玉:

  • 从技术的角度来说:

如果仅仅基于理论推导的话,1GHz以下RE测试的限值要比RSE更低,也就是说,在衡量1GHz以下频段无意发射的时候,RE测试是更严格的

  • 从实际操作的角度来说:

RE测试和RSE测试是由不同标准组织制定的、来源完全不同的两个测试。举个栗子,在国内做认证的时候,RE测试隶属3C,RSE测试属于型号核准,取消一个?呃,当我没说过……

一代人走,一代人来,太阳落下,太阳照常升起。

测试标准的演进是一个缓慢而又不可阻挡的过程,CISPR32取代CISPR22,RED指令取代R&TTE指令……上学时印在课本上的那些老朋友们都慢慢成为了历史。

载体变了,标准怎么可能不变。

5G商用化,全球规划的工作频段从20几GHz到80GHz;Tesla电动车autopilot主动雷达系统工作频率77GHz;802.11ad启动60GHz频段……仿佛一夜之间,毫米波频段的众多应用就颠覆了我们对于高频的固有认识。面对如此高的频率,该如何开展电磁兼容研究和测试?现有的电磁兼容场地、设备和测试方法都显得捉襟见肘。就和当初曾经站在1GHz这个临界点前一样,我们又一次站在了频率的奇点前。

新的技术酝酿着一场新的变革,电磁兼容测试标准也不例外。

未来已来,让我们拭目以待。

揭晓答案:上面那张图里,虽然是全电波暗室、EUT带附件测试,但却真的不是1GHz以上的RE测试。

以上文章来源网络,如有涉及侵权,请联系删除!我们一直在关注这方面的发展,对话题有不同见解的欢迎一起讨论。

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