‌ADC08D1520QML-SP 数据手册总结-电子发烧友网

该ADC08D1520是一种8位、双通道、低功耗、高性能的CMOS模拟转数字转换器，基于ADC08D1000平台构建。该ADC08D1520能够数字化信号，分辨率为8位，采样率最高可达1.7 GSPS。它拥有扩展的功能相比ADC08D1000，包括用于系统调试的测试模式输出、时钟相位调整，以及可选输出解复用模式。在解复用模式下，功耗为典型的2.0W，功率为1.5 GSPS来自单一1.9伏电源，该设备确保在整个工作温度范围内无缺失码。独特的折叠和插值架构，完全差分比较器设计，创新的内部采样保持放大器设计自校准方案使所有动态参数在奈奎斯特之外都能实现非常平坦的响应，在748 MHz输入信号和1.5 GHz的同时，产生高7.2的有效比特数（ENOB），采样率为10^-18^代码错误率（C.E.R.）输出格式为偏移二进制，低电压差分信号（LVDS）数字输出为兼容IEEE 1596.3-1996，唯一例外是可调的共模电压介于0.8V到1.2V之间。
*附件：adc08d1520qml-sp.pdf

每个转换器都有一个可选的输出解复用器，用于供两条LVDS总线。如果选择1：2解复用模式，输出数据率会降低到输入采样率的一半在每个总线上。当选择非解复用模式时，通道DI和DQ的输出数据速率与输入采样时钟的速率相同。这两个转换器可以交错使用，作为单个3 GSPS的ADC。

该转换器在断电模式下通常功耗低于2.9毫瓦，且可选择采用128针、热增强、多层陶瓷四边形封装，适用于军用（-55°C ≤ T 一个 ≤+125°C）温度范围。

特性

总电离剂量 300 krad（Si）
单事件锁定120 MeV-cm ^2^ /毫克
单+1.9V±0.1V作
2倍采样率的交错模式
多 ADC 同步能力
输入全刻度范围、偏移和时钟相位调整的调整
SDR或DDR输出时钟的选择
1：1 或 1：2 可选输出去多工
第二代DCLK输出
占空比校正采样时钟
测试模式
用于扩展控制的串行接口

主要规格

分辨率 8位
最大转化率 1.5 GSPS（最小）
代码错误率 10-18（类型）
ENOB 在 748 MHz 输入 7.2 位（类型）
DNL ±0.15 LSB（类型）
功耗
- 工作电压为1：2多工输出2.0瓦（典型）
- 断电模式 2.9 mW（典型）

参数

方框图

‌1. 产品概述‌

ADC08D1520是一款8位双通道低功耗高性能CMOS模数转换器
支持双1.5 GSPS或单3.0 GSPS采样率
基于ADC08D1000平台构建，具有增强功能

‌2. 关键特性‌

‌辐射耐受性‌：
- 总电离剂量：300 krad(Si)
- 单粒子锁定：120 MeV-cm²/mg
‌工作模式‌：
- 交织模式实现2倍采样率
- 多ADC同步能力
- 可选择的SDR或DDR输出时钟
- 1:1或1:2可选输出解复用器
- 第二DCLK输出
- 占空比校正采样时钟
- 测试模式
- 扩展控制串行接口

‌3. 电气规格‌