该ADC10D1000是TI超高速ADC产品家族的最新进展。这款低功耗、高性能的CMOS模拟转数字转换器以10位分辨率的信号数字化,采样率在双通道模式下最高可达1.0 GSPS,单通道模式下可达2.0 GSPS。该ADC10D1000在典型功耗约2.9瓦的同时,实现了卓越的精度和动态性能。该空间级辐射耐受部件对单次事件锁存水平超过120MeV和总剂量(TID)为100 Krad(Si)具有辐射硬性。该产品采用气门376柱热增强CPGA封装,温度范围为-55°C至+125°C。
*附件:adc10d1000qml-sp.pdf
该ADC10D1000基于8位 GHz 系列 ADC 的特性、架构和功能。新功能包括多芯片同步的自动同步功能、独立可编程15位增益和每通道12位偏移调整、时钟输入的LC仓滤波器,以及数字输出数据可选的二补数格式。独特的折叠和插值架构、全差分比较器设计、创新的内部轨迹保持放大器设计以及自校准方案,使得所有动态参数(超越奈奎斯特)的响应都非常平坦,输出8.9高有效比特数(ENOB),输入信号498 MHz,采样率1.0 GHz,同时提供10^−18^代码错误率(C.E.R.)在非解复用模式下,单一1.9伏电源以1.0 GSPS的典型功耗为2.9瓦,确保在整个工作温度范围内无缺失代码。
每个通道都有独立的DDR数据时钟DCLKI和DCLKQ,当两个通道通电时它们是同相的,因此只能使用一个数据时钟捕获所有数据,发送速率与输入采样时钟相同。如果选择1:2解复用模式,每个通道会激活第二个10位LVDS总线,输出数据速率会变慢两倍,但宽度增加两倍以放松数据采集时序余裕。两个通道(I和Q)也可以交错(DES模式),作为一个2.0 GSPS的ADC在Q输入上采样。输出格式为偏移二进制或二进制补码,低电压差分信号(LVDS)数字输出兼容IEEE 1596.3-1996,唯一例外是可调的共模电压介于0.8 V至1.2 V之间。
特性
- 总电离剂量 100 krad(Si)
- 单事件锁定 120 Mev-cm ^2^ /毫克
- 卓越的精准度和动态性能
- 低功耗
- 扩展控制模式的R/W SPI接口
- 内部终端缓冲差分模拟输入
- 能够将两个通道交错,以两倍转换率作一个通道
- 系统调试输出端的测试模式
- 可编程的15位增益和12位加号偏移调整
- 可选1:2去多工或1:1非多工LVDS输出
- 多芯片系统的自动同步功能
- 单1.9±0.1伏电源
- 376陶瓷针栅阵列封装(28.2毫米 x 28.2毫米 x 3.1毫米,球距1.27毫米)
参数
方框图

一、产品核心概述
ADC10D1000QML-SP 是德州仪器推出的空间级高性能高速 ADC,核心优势为超高采样率、灵活配置与抗辐射设计。产品支持双通道 1GSPS 或单通道 2GSPS(交织模式)采样,分辨率 10 位,工作温度范围 -55°C~125°C,采用 376 引脚陶瓷柱栅阵列(CCGA)密封封装,单 1.9V 供电,集成片上缓冲器、可编程增益 / 偏移调整、LVDS 输出及多芯片同步功能,专为宽带通信、直接射频下变频、星跟踪器等空间及高可靠性高速数据采集场景设计,抗总电离剂量 100krad (Si),单粒子锁定免疫 120 MeV-cm²/mg。
二、关键特性与规格
1. 核心性能参数
- 分辨率与线性度 :10 位无丢失码,微分非线性(DNL)±0.5LSB,积分非线性(INL)±1.4LSB;支持 15 位可编程满量程范围(630mVpp~980mVpp)与 12 位 ±45mV 偏移调整,通道间增益匹配 ±2LSB,相位匹配<1°(1GHz 输入)。
- 动态性能:全功率带宽(FPBW)非交织模式 2.8GHz、交织模式 1.3GHz;498MHz 输入时 ENOB 典型 8.9 位,SNR 56.7dBc,SFDR 67.6dBc,总谐波失真(THD)-65.7dBc;串扰 -61dB,噪声功率比(NPR)47.5dB。
- 输入与参考:差分输入阻抗 100Ω,输入电容 0.02pF(差分),共模电压 1.25V;内置 1.25V 带隙基准,支持 AC/DC 耦合输入,过范围恢复时间仅 1 个时钟周期。
- 功耗与延迟:典型功耗 2.9W(双通道激活),孔径延迟 1.1ns,孔径抖动 0.2ps rms;输出延迟 34~35.5 个时钟周期,支持 DDR 模式数据传输。
2. 核心功能
- 灵活工作模式:支持双边缘采样(DES)/ 非 DES 模式,可配置 1:2 解复用(输出速率减半)或 1:1 非解复用输出,适配不同数据处理速率需求。
- 抗辐射与高可靠性:满足空间应用辐射等级要求,校准寄存器抗单粒子翻转,无电源复位功能避免空间环境下功能中断,代码错误率(CER)低至 10⁻¹⁸。
- 精准信号调理:支持独立通道 15 位满量程调整与 12 位偏移校正,内置时钟 LC 滤波器降低抖动,时钟占空比自动校正(20%~80% 兼容)。
- 多芯片同步:集成 AutoSync 功能与 DCLK 复位,支持主从架构多芯片同步,可通过二进制树拓扑扩展通道,同步延迟可调 0~1000ps。
三、封装与引脚
1. 封装信息
- 376 引脚 CCGA 密封封装:陶瓷基底 + 金属盖板,热增强设计,结到环境热阻 13.1°C/W,结到板热阻 5.1°C/W;符合空间级封装标准,MSL 等级适配航天级焊接工艺,峰值回流温度 220°C。
2. 关键引脚功能
- 电源与地:V_A(模拟供电)、V_TC(采样 / 时钟电路供电)、V_DR(输出驱动供电)、V_E(数字编码器供电),对应地引脚 GND、GND_TC、GND_DR、GND_E,需就近并联 100nF 去耦电容。
- 输入与时钟:VinI±/VinQ±(双通道差分模拟输入)、CLK±(差分采样时钟,AC 耦合)、RCLK±(参考时钟,多芯片同步用);Rtrim±/Rext±(外接 3.3kΩ 校准电阻)。
- 控制与输出:SPI 接口(SCS/SCLK/SDI/SDO)用于扩展配置;DIx±/DQx±(LVDS 数据输出)、DCLKI±/DCLKQ±(数据时钟)、ORI±/ORQ±(过范围指示);CAL(校准触发)、PDI/PDQ(通道掉电)、TPM(测试模式)。
- 辅助功能:Tdiode±(片上温度传感器二极管)、V_CMO(共模电压输出 / 耦合模式选择)、V_BG(带隙基准 / LVDS 共模选择)。
四、工作模式与核心功能
1. 核心工作模式
- 采样模式:双通道模式(I/Q 通道独立 1GSPS 采样)、单通道交织模式(Q 通道输入,I/Q 通道分别在时钟上升 / 下降沿采样,总速率 2GSPS)。
- 输出模式:LVDS 输出支持 0°/90° 相位配置,解复用模式下输出速率减半,数据格式可选偏移二进制或二进制补码,支持测试图案输出(用于系统调试)。
- 低功耗模式:支持 I/Q 通道独立掉电,全掉电模式功耗仅 6mW,唤醒时间 500ns~1μs。
2. 关键功能
- 抗辐射校准:支持引脚或 SPI 触发自校准,校准覆盖输入阻抗、时钟阻抗及线性度,校准参数可存储 / 回读,辐射环境下保持性能稳定。
- 多芯片同步:AutoSync 功能通过主从架构实现多 ADC 时钟与数据同步,支持延迟调整;DCLK 复位功能可同步多芯片输出时钟,确保通道间相位一致性。
- 灵活配置:支持扩展控制模式(ECM)与非扩展控制模式,ECM 下可通过 16 个寄存器配置满量程、偏移、滤波器参数等;非 ECM 下通过引脚快速配置工作模式。
五、应用场景与设计支持
1. 典型应用
- 空间电子:星跟踪器、卫星通信载荷、空间宽带接收机。
- 高速通信:直接射频(RF)下变频、软件无线电(SDR)、超宽带数据采集。
- 高可靠性系统:雷达、航空航天测试仪器、辐射环境下高速信号采集。
2. 设计资源
- 电源与去耦:采用分层电源平面设计,每个电源引脚就近放置 100nF 多层陶瓷电容,模拟地与数字地单点共地,降低电源噪声耦合。
- 布局要点:模拟输入 / 时钟走线远离数字信号,差分线阻抗控制 100Ω 并等长布线;LVDS 输出需在接收端就近放置 100Ω 差分端接电阻,减少信号反射。
- 输入驱动:单端信号需通过巴伦变压器转换为差分信号,驱动放大器需匹配 100Ω 输入阻抗,确保高频信号完整性;未使用通道需按耦合模式 terminate 至 V_BG 或 AC 地。
- 时钟设计:采样时钟需 AC 耦合输入,幅度 0.4Vpp~2Vpp,推荐低抖动时钟源(如 CDC7005),高频场景启用片上 LC 滤波器降低时钟抖动。
六、可靠性与订单信息
- 可靠性保障:绝对最大额定值:供电电压 1.8V
2.2V,引脚电压 -0.5V2.5V,结温 150°C;符合 MIL-STD-883 标准,抗静电(HBM)±8000V,充电器件模型(CDM)±750V。 - 可订购型号:ADC10D1000CCMLS(飞行级,36 片 / 托盘)、ADC10D1000CCMPR(预飞行工程原型,36 片 / 托盘),封装为密封 CCGA,支持空间级质量流程与辐射测试报告。
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