从“数字化”到“数智化” 致晟光电实时瞬态锁相红外热分析系统入选2025年应用案例库

在“十四五”数字经济发展规划指引下，半导体产业正加速向高质量发展迈进，数智化转型成为企业优化运营、突破发展瓶颈的重要路径。作为主攻半导体器件失效分析领域的企业，致晟光电科技凭借实时瞬态锁相红外热分析系统（RTTLIT)，近日成功入选2025年数智化转型应用案例库。

致晟光电《基于实时瞬态锁相红外热分析系统下半导体失效分析应用》

半导体器件的失效分析是保障芯片可靠性、提升产业良率的关键环节，直接关系到终端产品质量与企业市场竞争力。随着芯片制程不断升级、器件结构日趋复杂，产业对失效分析的精度和效率提出了高要求——既要精准捕捉纳米级的微弱信号，又要快速定位失效根源，为生产优化提供及时支撑。而传统模式的局限恰恰卡在“数字化”向“数智化”的断层：虽实现基础数据记录，但依赖人工操作与经验判断，误差风险高；数据分散形成“孤岛”，多维度比对全靠手动，效率较低，这一痛点成为致晟光电突破发展的核心瓶颈。

以产业需求为导向，致晟光电确立了“实现半导体器件高效、精准无损失效分析”的转型目标，将数智化技术深度融入分析全流程，核心举措聚焦于自主研发的RTTLIT系统，构建起覆盖“数据采集-整合-分析-应用”的智能体系。在数据层面，系统打破了传统设备的通信壁垒，实现了各类检测设备的数据接口标准化，可自动采集微弱信号检测、结构分析等多维度数据，实时汇聚至统一数据平台，彻底终结“数据孤岛”现象。系统搭载的智能算法能够对数据进行关联与分析，替代传统人工比对流程，不仅大幅降低人为误差，更实现了数据价值的深度挖掘。

在流程层面，数智化改造重构了失效分析链路：从样品接入到报告输出，全流程实现标准化、自动化管控，设备协同效率提升显著；针对不同类型器件的分析需求，系统可智能匹配最优分析方案，动态调整检测参数，确保分析精度的同时，最大限度压缩流程耗时。过程中，技术人员仅需通过系统进行关键节点监控与异常干预，实现“人机协同”的高效作业模式，这一从“数字化记录”到“数智化决策”的跨越，让转型成效全面显现。传统模式的局限，恰好体现在从“数字化”到“数智化”的衔接不足：虽能完成基础数据记录，但过度依赖人工操作与经验判断，易产生误差；数据分散存储于不同设备，形成“数据孤岛”，多维度比对需手动完成，效率相对不高，这也是致晟光电在发展中亟待解决的问题。

目前，致晟光电已将单器件失效分析周期缩短30%以上，极大提升了客户生产问题的响应速度；微弱信号检测的自动化识别率显著提高，分析结果的一致性与准确性得到行业客户的高度认可。多维度数据联动分析能力的形成，让失效根源定位更精准，为客户提供的分析报告不仅包含结论，更附上数据支撑的优化建议，助力客户实现“从失效整改到提前预防”的升级。数据沉淀更反哺算法优化，使企业的数智化核心竞争力持续强化。

ZanSun致晟光电 RTTLIT P20

面对半导体产业日新月异的技术变革与市场需求，致晟光电相关负责人表示，此次数智化转型并非终点，而是新的起点。未来，企业将持续深化数智化技术应用，推动RTTLIT系统的迭代升级，探索AI与失效分析的深度融合，进一步提升分析精度与效率。这一实践充分表明，数智化不仅是技术升级的手段，更是企业实现高质量发展的核心引擎。

在国家大力推动半导体产业自主可控与数智化转型的政策导向下，致晟光电将以此次入库为契机，积极分享转型经验，以自身技术突破赋能产业链上下游企业，共同推动我国半导体产业在数智化浪潮中实现更高质量的发展。结合产业实际需求，致晟光电将“实现半导体器件高效、精准的无损失效分析”作为转型方向，把数智化技术融入分析全流程，依托自主研发的RTTLIT系统，搭建起“数据采集-整合-分析-应用”的全链条体系。

审核编辑 黄宇