同惠TH510最新C-V特性分析仪重新定义半导体测试标准-电子发烧友网

专业高效的功率器件测试解决方案
在功率器件CV特性测试领域，当前市场设备普遍存在以下挑战：
进口设备：
• 成本较高，采购和维护成本对许多企业构成压力；
• 功能集成度高导致操作复杂度提升，非母语界面可能影响用户体验；
• 多功能一体设计虽全面，但测试流程和接线配置耗时，效率有待优化。
国产设备：
• 模块化组合设计导致体积较大，难以适配自动化产线的高效需求；
• 电压范围有限，难以满足第三代半导体器件的测试要求；
• 小电容（pF级）测量精度受限于系统设计和信号链路；
• 多设备协同效率不足，单次测试周期较长；
• 系统集成灵活性不足，与客户自动化产线的兼容性存在提升空间。
针对当前测试痛点，同惠电子作为国产器件测量仪器头部企业，责无旁贷的担负起进口仪器国产化替代的责任，本着为客户所想、为客户分忧的精神，契合市场热点及需求，及时推出了针对半导体功率器件CV特性的一体化、系列化解决方案。
TH510系列半导体C-V特性分析仪支持C-V特性曲线分析，可以以对数、线性两种方式实现曲线扫描，可同时显示多条曲线：同一参数、不同Vg的多条曲线；同一Vg、不同参数多条曲线。

单管器件或者多个单管器件测试相对简单，同惠提供了TH510系列半导体C-V特性分析仪即可满足基本测试要求。TH510系列半导体半导体C-V特性分析仪基本情况如下：
作为国产测量仪器领域的领先企业，同惠电子始终致力于为客户提供高性价比的专业解决方案。针对行业痛点，我们推出TH510系列半导体C-V特性分析仪，以一体化设计、高性能指标和用户友好体验，助力功率器件研发与生产
核心优势：
•专业精准：支持pF级小电容高精度测量，满足宽电压范围测试需求（可扩展至第三代半导体器件）；
•高效易用：简洁的操作界面、自动化扫描功能，显著提升测试效率；
•灵活适配：紧凑型设计兼容产线部署，开放接口便于集成至自动化测试系统；
•智能分析：支持对数/线性双模式曲线扫描，多参数对比显示功能助力快速诊断。