如何实现半导体芯片多PIN点I-V曲线的连续采集？

在电子测试领域，I-V 曲线不仅能直观揭示器件的电学规律，更为其性能评估提供了核心依据。近日，纳米软件借助 ATECLOUD 平台的数据洞察能力，完成了10 个 PIN 点 I-V 曲线的测试，同时可以将多条I-V曲线进行对比分析。

多条I-V曲线对比分析

测试信息：
1.被测产品：半导体芯片
2.测试仪器：数字源表
3.测试指标：I-V曲线

半导体芯片测试

用户痛点：
用户在测试芯片的I-V曲线时，原厂的软件只能同时满足5个Pin点I-V曲线的测试，但目前用户需要同时测试10个Pin点I-V曲线，并对曲线的数据进行对比分析。

I-V曲线测试

解决方案：
针对用户痛点，纳米软件利用ATECLOUD平台，搭建了源表I-V曲线测试以及数据分析解决方案。方案支持任意PIN点数量的 I-V 曲线测试，轻松满足企业对多个PIN点的测试结果的分析需求，为芯片性能评估提供数据支持。

多PIN点I-V曲线测试

ATECLOUD平台优势：
1.零代码开发，无需专业编程技能即可搭建测试流程。
2.自定义数据报告一键导出，支持动态数据绑定，15 秒生成专业报告。
3.大数据智能分析，打破数据孤岛，实现测试闭环。
4.支持与ATE 程序、MES、ERP 等系统对接以及 AI 算法、非标设备的插件拓展。
5.已持续兼容是德、泰克、R&S、优利德、普源等国内外主流设备，用户灵活拓展。

审核编辑 黄宇