电磁兼容EMI辐射发射与抗扰度测量的小方盒--TEM小室

电子产品的辐射干扰无一例外地要在昂贵的屏蔽室或者暗室中测试，但是当你把一个只有手指大小的汽车电子部件放在庞大的屏蔽室内用巨大的天线对准部件进行测试的时候，你是否会突然觉得场面有点滑稽呢？你是否会突发奇思妙想：我可以把这些部件放在一个小方盒里，盒内带上天线，不就是在缩小版的屏蔽室或者暗室内测试了吗？

唉！恭喜你，深圳市华瑞高电子有限公司帮您实现了！这个“缩小版的屏蔽室或者暗室”的小方盒就是TEM小室。产品辐射干扰用TEM小室测试的结果，在9KHz-2500MHz内直接被标准GB/T18655-2018认可（GB/T18655-2018 6.6 零部件/模块的辐射发射--TEM小室法），无需大暗室测试验证；高于该频率的辐射干扰测试，可以参考标准规定的方法换算到大暗室测试结果。如果仅用于产品的EMC整改，TEM小室的测试结果足以准确反映EUT整改前后的EMI变化幅度。

深圳市华瑞高电子技术有限公司出品的HTM-3A和HTM-8A小方盒--TEM小室，将工作频率范围扩展到现有设备之外，同时允许对集成电路进行高达3GHz和8GHz频率的辐射发射与抗扰度测试。将半导体芯片安装在固定到位的测试夹具板上，安装好后，可以根据GB/T42968.2、IEC61967-2和IEC61967-8、SAE1752-3和IEC62132-8进行3GHz和8GHz的测量。

同时我们的HTM-3A和HTM-8A小方盒--TEM小室配置为可容纳IEC61967-2中规定的标准100mm*100mm的测试夹具板，HTM-3A小方盒--TEM小室可以完美的替代美国FCC的FCC-TEM-JM7D，HTM-8A小方盒--TEM小室可以完美的替代美国FCC的FCC-TEM-JM7C。

深圳市华瑞高电子技术有限公司最新推出的EMI辐射测量小方盒-TEM小室可以用来测量来自被测件EUT或集成电路PCB的辐射敏感度和传导抗扰度的试验，其频率最高可以达到8GHz。其驻波比可以到达1.2，传输衰减比小于0.3dB。