Advantest CEO：先进芯片测试需求大增

近日，半导体测试设备领域的龙头企业Advantest爱德万测试集团的首席执行官Douglas Lefever在接受英国媒体采访时，就现代先进芯片的测试需求发表了见解。

Lefever指出，随着芯片技术的不断进步，现代先进芯片在测试方面的需求较以往有了大幅提升。他透露，目前最先进的芯片从晶圆切割到成品组装的全流程中，需要经过Advantest设备10~20道的测试。而在五年前，这一数值还仅有个位数。

此外，Lefever还提到，芯片测试所需的时间也在不断增加。以Blackwell芯片为例，其所需的测试时间是英伟达上一代AI GPU的3~4倍。这一变化无疑给芯片测试行业带来了新的挑战。

尽管目前AI手机市场尚未出现真正的杀手级应用需求，导致该领域对芯片的需求仍处于低位，但Lefever对未来充满信心。他表示，一旦能够引起颠覆性变化的应用出现，智能手机市场将迎来强劲的需求爆发。