GaN可靠性测试新突破：广电计量推出高压性能评估方案

氮化镓（GaN），作为一种具有独特物理和化学性质的半导体材料，凭借卓越的功率转换效率、超快的开关速度以及出色的耐高温性能，在5G通信、新能源汽车、数据中心及消费电子等前沿领域扮演着重要角色。然而，GaN的可靠性评估及全面性能测试仍面临挑战，尤其是高耐性、优异热阻及极低界面电容等性能测试技术在国内尚待成熟。基于此，广电计量集成电路测试与分析研究所推出了GaN功率器件开关耐高压性能的可靠性评估及测试方法，实现对氮化镓功率器件的可靠性测试，不仅涵盖了AEC标准鉴定能力，同时具备对GaN 器件内在故障机制触发方法的验证能力。

攻克多样技术难题，铸就卓越技术品质

针对氮化镓功率器件动态性能测试所面临的挑战，深入探究氮化镓开关性能测试技术，对测试布局予以优化，规避测试过程中长环路的引入，从高低侧电压测量以及电流传感器选取等方面着力，成功攻克测试的难点，同时克服了氮化镓器件容易发生的电流崩塌问题，填补可靠性评估及测试能力空缺，为企业及行业提前预判器件的潜在失效问题。

服务优势

扩展服务范围：填补国内研究的空缺，剖析GaN潜在失效机制。

提高监测效率：实现动态性能的在线监测，异常电压电流可触发报警并暂停测试。

提前故障干预：避免引入寄生参数，在早期及时干预，降低产品的失效率。

提升产品质量：设置完整的可靠性系统，把控GaN产品质量。

解锁GaN器件故障机制，驱动行业升级

针对 GaN 仍存在一系列 Si 器件的可靠性评估及测试无法覆盖的难题，广电计量建立的氮化镓可靠性评估及测试方法不仅涵盖了标准鉴定能力，更重要具备对 GaN 器件内在故障机制触发方法的验证能力。通过深入研究GaN的可靠性问题并采取相应的措施来提高其可靠性水平，可以推动相关技术的创新和发展、确保产品质量与安全性、促进市场应用与拓展、降低维护成本与风险以及推动行业标准化与规范化发展。

集成电路测试与分析研究所

广电计量集成电路测试与分析研究所拥有各类高精尖分析仪器和专业技术团队，以技术引领市场，长期致力于元器件筛选及失效分析技术领域的科研和咨询服务，构建了包括元器件国产化验证与竞品分析、集成电路测试与工艺评价、半导体功率器件质量提升工程、车规级芯片与元器件AEC-Q认证、车规功率模块AQG 324认证等多个技术服务平台，满足装备制造、航空航天、汽车、轨道交通、5G通信、光电器件与传感器等领域的电子产品质量与可靠性的需求，能为客户提供专业化咨询、分析及培训等“一站式”服务，全面提升产品品质。