操作不挑人，简约不简单！钨灯丝扫描电镜SEM2000
当下，全球都在强调制造业的重要性
我国更是将制造业转型升级作为长期的发展战略
扫描电镜作为一种强大的分析仪器
在提升制造业产品创新能力与产品质量上将大有作为
钨灯丝扫描电镜SEM2000
但在实际应用中
常有用户担忧电镜很“娇气”
容易损坏，使用操作复杂，需要花较长的时间才能上手
隐形成本很高！
国仪量子电镜团队针对这一痛点
以“人人都敢用，人人都能用”的目标打造了
“操作不挑人，简约不简单”的
钨灯丝扫描电镜SEM2000
SEM2000操作不挑人，简约不简单
SEM2000操作界面简洁
瞬间上手，皮实耐用，故障率低
即便是新手也能轻松使用
SEM2000自动化程度高
一键成像、自动聚焦、自动消像散、自动对比度功能
大大简化调试参数的步骤
SEM2000具有完备的防碰撞流程
可以完全避免样品碰伤物镜极靴、二次电子探测器等零部件
简约而不简单
SEM2000实拍见真章
以下是经过短时间培训后的新手拍出的图片
图像清晰，对比度好，景深大
生箔
芯片
负极极片
负极碳包硅
SiC陶瓷 BSE
氧化铝粉体
如果您希望降低使用成本，提高操作效率
如果您从来没有使用过电镜，想要首次尝试扫描电镜
如果您希望工具可以更简单
那SEM2000将会是您最好的选择！
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。
举报投诉
-
电镜
+关注
关注
0文章
105浏览量
9793
发布评论请先 登录
相关推荐
热点推荐
从五大角度分析SEM和TEM的区别
扫描电镜与透射电镜的区别：扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）是两种常用的电子显微镜，它们在观察样品的表面和内部结构方面各有特点。以下是对
蚊子翅膀不用喷金也能看？聊聊扫描电镜用“镜筒内加减速”死磕低电压成像
，直接通过低电压还原样品的原始状态。
2、让电镜回归测量工具的严谨
扫描电镜不仅仅是照相机，对很多半导体和金相客户来说，它更是精密尺子。但很多电镜在低倍率下存在场曲（边缘模糊），或者X/Y轴比例不一致
发表于 12-09 17:42
聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）的三大应用技术
聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）双束系统是现代材料科学研究中不可或缺的多维表征平台。该系统将聚焦离子束的精准加工能力与扫描电镜的高分辨率成像功能有机结合，为从微观到纳米尺度的材料结构解析提供了
一文看懂扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）
从最初的光学显微镜到如今的电子显微镜，我们观察微观世界的能力不断提升，推动了材料科学、生物学、半导体技术等领域的革命性进展。本文将讲解现代微观分析的两大主力工具——扫描电子显微镜（SEM）和透射
一文搞懂四种电镜测试的区别(SEM、TEM、EDS、EBSD)
在材料科学与生物实验领域，电子显微镜（EM）作为关键的微结构表征手段，以电子束代替可见光作为照明源，可实现纳米级分辨能力，显著优于光学显微镜的观测极限。扫描电子显微镜（SEM）1.原理SEM的核心
一文读懂！扫描电镜mapping图如何助力静电纺丝纤维结构观察
在微观世界的探索中，材料的宏观性能究竟由其微观世界中哪些区域的哪些元素所决定？扫描电镜mapping图为我们深入了解材料的微观结构和成分分布提供了独特视角，尤其在静电纺丝纤维结构观察方面，有着
扫描电镜与扫描电子显微镜：解析二者的关系与区别
在科研、工业检测等领域，“扫描电镜”和“扫描电子显微镜”这两个术语经常被提及。对于刚接触相关领域的人来说，很容易对它们产生困惑，不清楚二者之间究竟存在怎样的联系和区别。其实，从本质上来说，二者有着
SEM与TEM该如何选择?
扫描电镜（SEM）把细束电子像画笔一样在样品表面来回扫描，电子与表层原子短暂碰撞后，释放出二次电子或背散射电子。探测器把这些信号逐点收集、放大，最后在屏幕上拼成一幅二维强度图。因为作用深度只有几纳米
FIB-SEM的常用分析方法
聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）是一种集多种先进技术于一体的微观分析仪器，其工作原理基于离子束与电子束的协同作用。扫描电子显微镜（SEM）工作机制
什么是聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）？
工作原理聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）是一种集多种先进技术于一体的微观分析仪器，其工作原理基于离子束与电子束的协同作用。1.离子束原理离子束部分的核心是液态金属离子源，通常使用镓离子。在强电
扫描电镜在微纳加工中的应用
本文是A. N. BROERS关于扫描电镜在微纳加工中应用的研究回顾，重点记录了他从1960年代开始参与电子束加工技术开发的历程。文章详细记录了EBL技术从概念萌芽到工业应用的完整发展历程，为理解现代电子束光刻技术的原理、局限性和发展方向提供了宝贵的历史视角和技术洞察。
扫描电镜(SEM)的工作原理和主要成像模式
扫描电镜的概念和技术起源于20世纪30年代，最早是由德国物理学家Max Knoll和Ernst Ruska首次提出了扫描电子显微镜的概念，经过科学家们不断研究与技术革新，第一台实用化的商品扫描电子显微镜在英国诞生。2002 年，
评论