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夹具设计、校准及测试

高频高速研究中心 来源:高频高速研究中心 作者:高频高速研究中心 2022-09-06 15:05 次阅读

一:测试硬件设备:

E5071C Keysight

4端口20GHz网络分析仪,带TDR选件。

适合测试20GHz以内的PCB板内S参数、阻抗 频域、时域、信号

二:测试夹具设计

2.1:测试夹具说明:

168a0eec-2db1-11ed-ba43-dac502259ad0.png

1.待测物焊盘:由待测物本身封装决定;

2.测试通道走线:根据待测物大小以及测试方便设计合适宽度及长度的走线;

3. 2.92mm同轴转接头:适用于带宽40GHz,用于连接矢网线缆和测试板,转接头和测试板配合的位置需要进行仿真匹配阻抗。

4.校准通道走线:设计校准通道走线长度为测试通道走线长度的两倍,用于AFR校准,使用plts软件。

2.2:测试夹具说明:

2.92mm同轴转接头datasheet

16f9f16c-2db1-11ed-ba43-dac502259ad0.png

2.3:推荐叠层:

170fbd76-2db1-11ed-ba43-dac502259ad0.png

三:校准软件

PLTS软件:

Keysight 自动夹具一出(AFR PLTS)软件。

173ad74a-2db1-11ed-ba43-dac502259ad0.png

175b7c66-2db1-11ed-ba43-dac502259ad0.png

4:测全通道s参数,校准通道s参数,得出待测物s参数

第一步:

将待测物精准焊接到测试板上,并使用仪器检测是否有短路、虚焊、开路等情况。

第二步:

校准仪器后,分别将测试通道两端的2.92mm同轴转接头连接到矢网上测得待测物和测试板整体的S参数,导出SNP1文件用于去嵌操作。

第三步:

测得校准通道的S参数,导出SNP2文件用于去嵌操作。

第四步:

将测得的整体S参数和校准通道的S参数导入PLTS软件中,进行去嵌操作后就能将SNP1文件中包含的测试板本身数据消掉,从而得到待测物的S参数。

注:插入损耗使用S21读取测试曲线,回波损耗或驻波比使用S11读取测试曲线。

178cee36-2db1-11ed-ba43-dac502259ad0.png

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审核编辑 :李倩

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原文标题:SI-list【中国】夹具设计、校准及测试

文章出处:【微信号:si-list,微信公众号:高频高速研究中心】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

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