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碳化硅技术基本原理

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2022-02-24 10:08:25466

6.3.4.1 SiC特有的基本现象∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

6.3.4.1SiC特有的基本现象6.3.4电学表征技术及其局限性6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.3热氧化氧化硅
2022-01-05 13:59:37493

8.2.10.2 反型层迁移率的器件相关定义∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

8.2.10.2反型层迁移率的器件相关定义8.2.10反型层电子迁移率8.2金属-氧化物-半导体场效应晶体管(MOSFET)第8章单极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2022-03-04 10:19:46276

6.1.6 离子注入及后续退火过程中的缺陷行成∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

6.1.6离子注入及后续退火过程中的缺陷行成6.1离子注入第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.1.5高温退火和表面粗糙化∈《碳化硅技术基本原理——生长
2021-12-31 14:13:05466

6.4.2.1 基本原理∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

6.4.2.1基本原理6.4.2n型和p型SiC的欧姆接触6.4金属化第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.4.1.2SiC上的肖特基接触∈《碳化硅技术
2022-01-24 10:09:121034

6.1.5 高温退火和表面粗糙化∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

6.1.5高温退火和表面粗糙化6.1离子注入第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.1.4半绝缘区域的离子注入∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2021-12-31 14:25:52549

11.4.1 光伏电源逆变器∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

11.4.1光伏电源逆变器11.4电力电子学与可再生能源第11章碳化硅器件在电力系统中的应用《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:器件主控:1、国产AGMCPLD
2022-04-21 10:23:49270

开关模式直流-直流变换器∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

11.2.2开关模式直流-直流变换器11.2基本的功率变换电路第11章碳化硅器件在电力系统中的应用《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP
2022-04-15 16:32:32269

9.2.2 阻断电压∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

9.2.2阻断电压压关系9.2绝缘栅双极型晶体管(IGBT)第9章双极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代Altera
2022-03-22 09:45:50196

10.1.1 碰撞电离和雪崩击穿∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

10.1.1碰撞电离和雪崩击穿10.1SiC功率器件的阻断电压和边缘终端第10章功率器件的优化和比较《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP
2022-04-02 11:05:59304

7.3 pn与pin结型二极管∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

7.3pn与pin结型二极管第7章单极型和双极型功率二极管《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:7.2肖特基势磊二极管(SBD)∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2022-02-10 09:18:15614

8.1.4 比通态电阻∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

8.1.4比通态电阻8.1结型场效应晶体管(JFET)第8章单极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:8.1.3饱和漏极电压∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征
2022-02-20 16:16:46636

12.2 高温集成电路∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

12.2高温集成电路第12章专用碳化硅器件及应用《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:器件主控:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代Altera选型说明2、国产
2022-04-28 14:53:47354

6.2.1 反应性离子刻蚀∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

6.2.1反应性离子刻蚀6.2刻蚀第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.1.6离子注入及后续退火过程中的缺陷行成∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2021-12-31 10:57:22817

6.3.4.8 其他方法∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

6.3.4.8其他方法6.3.4电学表征技术及其局限性6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.4.7电导法∈《碳化硅
2022-01-11 17:26:05445

6.4.2.2 n型SiC的欧姆接触∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

6.4.2.2n型SiC的欧姆接触6.4.2n型和p型SiC的欧姆接触6.4金属化第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.4.2.1基本原理∈《碳化硅技术
2022-01-25 09:18:08743

9.1.4 电流-电压关系∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

9.1.4电流-电压关系9.1双极结型晶体管(BJT)第9章双极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代Altera选型
2022-03-14 13:45:35169

10.2.1 垂直漂移区(SM)JTE∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

10.2.1垂直漂移区10.2单极型器件漂移区的优化设计第10章功率器件的优化和比较《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代Altera
2022-04-09 09:38:19176

11.3.4 同步电机驱动∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

11.3.4同步电机驱动11.3电动机驱动的电力电子学第11章碳化硅器件在电力系统中的应用《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:器件主控:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP
2022-04-20 15:12:13232

7.3.1 大注入与双极扩散方程∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

7.3.1大注入与双极扩散方程7.3pn与pin结型二极管第7章单极型和双极型功率二极管《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:7.3pn与pin结型二极管∈《碳化硅技术基本原理
2022-02-11 09:25:07541

8.1 结型场效应晶体管(JFET)∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

8.1.1夹断电压8.1结型场效应晶体管(JFET)第8章单极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:7.4结势垒肖特基(JBS)二极管与混合pin肖特基(MPS
2022-02-16 09:43:48325

6.2.2 高温气体刻蚀∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

6.2.2高温气体刻蚀6.2刻蚀第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.2.1反应性离子刻蚀∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》6.1.6
2021-12-31 10:31:17722

9.3.5 di/dt的限制∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

9.3.5di/dt的限制9.3晶闸管第9章双极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代Altera选型说明2、国产
2022-03-30 09:28:25169

8.1.5 增强型和耗尽型工作模式∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

8.1.5增强型和耗尽型工作模式8.1结型场效应晶体管(JFET)第8章单极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:8.1.4比通态电阻∈《碳化硅技术基本原理——生长
2022-02-20 14:15:56384

9.1.5 集电区中的大电流效应:饱和和准饱和∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

9.1.5集电区中的大电流效应:饱和和准饱和9.1双极结型晶体管(BJT)第9章双极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP
2022-03-14 11:20:00220

9.3.1 正向导通模式∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

9.3.1正向导通模式9.3晶闸管第9章双极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代Altera选型说明2、国产
2022-03-30 11:17:41162

10.2.2 横向漂移区∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

10.2.2横向漂移区10.2单极型器件漂移区的优化设计第10章功率器件的优化和比较《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代Altera
2022-04-11 15:15:45201

10.1.6 浮空场环(FFR)终端∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

10.1.6浮空场环(FFR)终端10.1SiC功率器件的阻断电压和边缘终端第10章功率器件的优化和比较《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD
2022-04-07 09:45:27375

开关模式逆变器∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

11.2.3开关模式逆变器11.2基本的功率变换电路第11章碳化硅器件在电力系统中的应用《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代
2022-04-15 11:01:18403

8.2.8 UMOS的先进设计∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

8.2.8UMOS的先进设计8.2金属-氧化物-半导体场效应晶体管(MOSFET)第8章单极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:8.2.7DMOSFET的先进
2022-03-01 10:36:06605

11.1 电力电子系统的介绍∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

11.1电力电子系统的介绍第11章碳化硅器件在电力系统中的应用《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代Altera选型说明2、国产
2022-04-14 11:22:07277

8.1.6 功率JFET器件的实现∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

8.1.6功率JFET器件的实现8.1结型场效应晶体管(JFET)第8章单极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:8.1.5增强型和耗尽型工作模式∈《碳化硅技术
2022-02-21 09:29:28537

6.3.4.2 MOS电容等效电路∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

6.3.4.2MOS电容等效电路6.3.4电学表征技术及其局限性6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.4.1SiC
2022-01-07 14:24:25420

12.3.2 气体探测器∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

12.3.2气体探测器12.3传感器第12章专用碳化硅器件及应用《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:器件主控:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代Altera选型说明
2022-05-09 17:27:05211

10.3 器件性能比较∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

10.3器件性能比较10.2单极型器件漂移区的优化设计第10章功率器件的优化和比较《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代Altera
2022-04-11 10:06:18248

5.3.2.1 寿命控制∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

5.3.2.1寿命控制5.3.1SiC中的主要深能级缺陷5.3SiC中的点缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技术碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:5.3.2载流子寿命“杀手
2022-01-06 09:38:25510

12.1.2 静态感应晶体管(SIT)∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

12.1.2静态感应晶体管(SIT)12.1微波器件第12章专用碳化硅器件及应用《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》代理产品线:器件主控:1、国产AGMCPLD、FPGAPtP替代
2022-04-26 09:33:09291

5.3.2 载流子寿命“杀手”∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

5.3.2载流子寿命“杀手”5.3.1SiC中的主要深能级缺陷5.3SiC中的点缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技术碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:5.3.1.2杂质∈《碳化硅
2022-01-06 09:37:40535

8.2.4 饱和漏极电压∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

8.2.4饱和漏极电压8.2金属-氧化物-半导体场效应晶体管(MOSFET)第8章单极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:8.2.3MOSFET电流-电压关系
2022-02-25 09:29:27469

5.3.1.2 杂质∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

5.3.1.2杂质5.3.1SiC中的主要深能级缺陷5.3SiC中的点缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技术碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:5.3.1.1本征缺陷∈《碳化硅技术
2022-01-06 09:30:23552

5.3.1.1 本征缺陷∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

5.3.1.1本征缺陷5.3.1SiC中的主要深能级缺陷5.3SiC中的点缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技术碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:5.2.3扩展缺陷对SiC器件性能
2022-01-06 09:27:16693

6.4.2.3 p型SiC的欧姆接触∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

6.4.2.3p型SiC的欧姆接触6.4.2n型和p型SiC的欧姆接触6.4金属化第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.4.2.2n型SiC的欧姆接触
2022-01-26 10:08:16636

5.2.3 扩展缺陷对SiC器件性能的影响∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》

5.2.3扩展缺陷对SiC器件性能的影响5.2SiC的扩展缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技术碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:5.2.1SiC主要的扩展缺陷&5.2.2
2022-01-06 09:25:55621

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