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直流和脉冲工作的VDMOS可靠性试验

大小:1.31 MB 人气: 2011-12-01 需要积分:0

基于恒定电应力温度斜坡法(CETRM),对工作于直流状态和脉冲状态下的VDMOS 功率器件进行可靠性研究,考察了器件阈值电压、跨导以及导通电阻的退化情况,得出在两种工作状态下均是跨导为失效敏感参数。

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