高速ADC测试和评估方法

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上传日期: 2021-09-16

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资料介绍

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高速ADC测试和评估方法-

应用范围

本应用笔记将介绍ADI公司高速转换器部门用来评估高速ADC的特征测试和生产测试方法。本应用笔记仅供参考,不能替代产品数据手册。

动态测试硬件设置

SNR,SINAD,最差杂散和IMD均通过类似于图1的硬件设置进行测试。在生产测试中,测试硬件均高度集成,但硬件原理都是一样的。动态测试的基本设置包括一个信号发生器、带通滤波器、测试夹具、低噪声电源、编码源(通常集成于评估板中)、数据采集模块和数据分析软件。ADI公司提供了相应的应用软件和硬件,用以在基准评估中提供帮助。请参阅"ADC FIFO套件"部分。

FIFO板可通过一根标准USB线连接至个人计算机,并配合ADC Analyzer软件对高速ADC的性能进行快速评估。用户可以查看特定模拟输入和时钟速率的快速傅立叶变换

FFT),并对信噪比(SNR)、信纳比(SINAD)、无杂散动态范围(SFDR)和谐波数据进行分析。FIFO板有单通道和双通道两种版本可供选择。对于某一特定ADC该选择哪一版本的决定,请参阅FIFO数据手册。LVDS和串行输出器件可能需要附加一块称为HSC-ADC-FPGA的适配板。这些会在产品数据手册中特别说明。


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