LDO环路稳定性对射频频综相噪有什么影响

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上传日期: 2020-04-02

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标签:晶体管(2254)ldo(773)放大器(7164)

  相位噪声是时钟射频频综最为关注的技术指标之一。影响相环相噪的因素有很多,比如电源、参考源相噪、VCO自身的相噪、环路滤波器的设置等。其中,电源引入的低频噪声往往对锁相环的近端相噪有着很大的影响。对于高性能的时钟和射频频综产品,为了获得极低的相噪性能,往往采用低噪声的LDO供电。然而,采用不同的LDO给频综供电,取得的相噪性能往往会有很大差别,同时,LDO外围电路设计也会影响到频综的相噪性能。

  本文首先简要地介绍了LDO的噪声来源及环路稳定性对输出噪声的影响;其次,根据调频理论推导出VCO的相位噪声与LDO的噪声频谱密度的理论计算关系。在此基础上,为了验证LDO噪声对射频频综输出相噪的影响,分别采用TPS7A8101和TPS74401 LDO评估板给TRF3765射频频综评估板供电,对比测试这两种情况下的TRF3765相噪曲线;同时,为了验证LDO环路稳定性对频综相噪的影响,针对TPS7A8101评估板的参考电路做出部分修改,并对比测试了电路修改前后的TRF3765输出相噪。

  1、LDO噪声来源及环路稳定性对输出噪声影响

  1.1 LDO噪声来源

  LDO的噪声分为LDO内部的噪声和LDO外部的噪声。LDO内部的噪声来自于内部电路的带隙基准源,放大器以及晶体管。LDO外部的噪声来自于输入。在 LDO的手册中,PSRR是表征LDO抑制外部噪声的能力,但PSRR高并不代表LDO内部噪声小。LDO的总输出噪声才是表征LDO内部噪声抑制的参数,一般在电气特性表里用单位?VRMS表示,或者在噪声频谱密度图上表示。

  

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