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| 软件名称 |
采用不同技术制造的钽电容器的故障模式 |
| 运行环境 |
Win9X/Win2000/WinXP/Win2003/ |
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| 整理时间 |
2008-7-17 10:10:51 |
| 软件星级 |
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| 软件语言 |
简体中文 |
| 软件类型 |
国产软件 |
| 授权方式 |
共享软件 |
| 软件大小 |
314 KB |
| 相关连接 |
csb23@126.com 官方主页 没有预览图片
[收 藏] |
| 下载统计 |
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| 解压密码 |
www.elecfans.com |
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 软件简介 |
钽电容器的故障模式的讨论基本包括
两方面：标准二氧化锰负极类型和新导电聚合
物(CP)类型。标准钽电容器在正常工作模式
下，由于电脉冲和电压水平，使沟道（通道）
中电导增加，而导致电击穿。这会导致随后的
热击穿，将电容器击毁。在相反模式下，我们
已经通报过：在相对低的电压水平下，焦耳热
会引起导电增加，从而触发热击穿。最终导致
反馈循环，包括：温度-电导 -电流-焦耳热，
最终形成电击穿。这两种击穿模式具有随机特
征，很难提前定位。相对于标准钽电容器而
言，导电聚合物（CP）电容器则显示了稍微
不同的电流导电机理。导电聚合物的介质击穿
近似于雪崩击穿和场致发射击穿。是由于两电
极之间的引力，电化学衰变，枝状结晶组织等
原因导致的机电崩塌。然而，也出现了某些负
极膜发生自愈现象报告。这可能源于膜蒸发，
碳化和再氧化过程。但并非所有的电容器击穿
会导致自愈现象或开路状态。可能也会出现短
路情况。
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