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功率器件雪崩耐量测试

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2023-06-26 10:06:01434

关于功率MOS管烧毁的原因总结

MOS 管可能会遭受与其他功率器件相同的故障,例如过电压(半导体的雪崩击穿)、过电流(键合线或者衬底熔化)、过热(半导体材料由于高温而分解)。
2023-06-11 15:58:46452

中科院微电子所在硅基氮化镓横向功率器件的动态可靠性研究方面获进展

提升硅基氮化镓横向功率器件可靠性的难点在于如何准确测试器件在长期高压大电流应力工作下的安全工作区,如何保证器件在固定失效率下的寿命。硅基氮化镓横向功率器件在高压大电流场景下的“可恢复退化”与“不可恢复退化”一直以来很难区分,这给器件安全工作区的识别和寿命评估带来了极大挑战。
2023-06-08 15:37:12477

功率模组OSRG测试什么

功率模组OSRG测试什么 IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor),绝缘栅双极型晶体管,是由(Bipolar Junction Transistor,BJT
2023-05-31 09:39:49671

00013 什么是雪崩击穿#半导体 #电子元器件 #知识分享

雪崩击穿
学习电子知识发布于 2023-05-28 19:34:27

MOSFET雪崩特性参数解析

EAS单脉冲雪崩击穿能量, EAS标定了器件可以安全吸收反向雪崩击穿能量的高低。以低于Tj(max)为极限。
2023-05-24 09:51:302761

功率MOSFET的雪崩强度限值

功率MOSFET的雪崩强度限值是衡量器件针对于感性负载在开关动作应用中的重要参数。 清楚地理解雪崩强度的定义,失效的现象及评估的方法是功率MOSFET电路设计必备的能力。 本文将以下面三个方面进行探讨。
2023-05-15 16:17:451133

碳化硅功率器件测试

碳化硅功率半导体器件具有耐压高、热稳定好、开关损耗低、功率密度高等特点,被广泛应用在电动汽车、风能发电、光伏发电等新能源领域。近年来,全球半导体功率器件的制造环节以较快速度向我国转移。目前,我国
2023-05-15 10:04:53804

功率MOS管烧毁原因总结

MOS 管可能会遭受与其他功率器件相同的故障,例如过电压(半导体的雪崩击穿)、过电流(键合线或者衬底熔化)、过热(半导体材料由于高温而分解)。
2023-05-05 09:11:22556

一文详解功率器件封装结构热设计方案

通过对现有功率器件封装方面文献的总结,从器件封装结构散热路径的角度可以将功率器件分为单面散热器件、双面散热器件和多面散热器件
2023-04-26 16:11:33917

多通道消光比测试仪说明

平台型多通道消光比测试仪可独立进行偏振消光比测试、光功率测试、插损变化测试等,配备 USB(RS232) 接口,上位机软件可自动进行数据测试、 记录、分析,可方便地组成自动测试系统。 广泛应用于光通信设备、光纤、光无源器件与光有源器件测试功率范围宽、测试精度高、性价比高、可靠性好。
2023-04-25 17:35:450

骚扰功率测试整改案例

骚扰功率测试是绝大多数AV类产品,家电以及电动工具产品在认证时常见的EMC测试之一。本文从骚扰功率测试原理说起,论述测试要点,以及出现测试不合格的原因分析,和可以采取的对策。后给出一个实际的整改案例加以说明。
2023-04-18 10:45:191646

功率器件封装结构热设计综述

在有限的封 装空间内,如何把芯片的耗散热及时高效的释放到外界环境中以降低芯片结温及器件内部各封装材料的工作温度,已成 为当前功率器件封装设计阶段需要考虑的重要问题之一。本文聚焦于功率器件封装结构
2023-04-18 09:53:235973

看懂MOSFET数据表:UIS/雪崩额定值

电压摆幅在MOSFET击穿电压之上,从而激活了其内在的寄生双极晶体管,并在FET上出现有效的雪崩效应。这项测试重复进行,电流逐渐增加,直到开始的泄漏测试失败,表明器件已被损坏。
2023-04-17 09:45:061407

InGaAs单光子雪崩焦平面研究进展

单光子探测器是一种可检测单个光子能量的高灵敏度器件。按工作原理不同,单光子探测器可分为光电倍增管(PMT)、超导单光子探测器(SSPD)和单光子雪崩光电二极管(SPAD)。
2023-04-15 16:00:591405

探讨碲镉汞线性雪崩焦平面器件评价及其应用

碲镉汞线性雪崩焦平面探测器具有高增益、高带宽及低过剩噪声等特点,在航空航天、天文观测、军事装备及地质勘探等领域展现了巨大的应用潜力。
2023-03-28 09:12:33727

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