关于薄膜瑕疵在线检测系统的详细介绍

导读：关于精谱测控薄膜瑕疵在线检测系统的介绍：

目前精谱测控薄膜瑕疵在线检测系统采用工业计算机、线扫描相机、旋转编码器和线型光源的方案。在生产时，由高亮LED组成的线型聚光冷光源采用透射或反射的方式照射在薄膜表面，通过与薄膜运行同步的旋转编码器触发，使架设在生产线上的线扫描相机同步扫描，将相机采集到的薄膜图像通过工业计算机上的采集卡实时传送给图像处理系统软件进行瑕疵识别处理。由于瑕疵图像的灰阶分布与正常图像的灰阶分布存在明显差异，从而使系统能够发现瑕疵，同时对瑕疵进行有效的判定、分类及后续处理。

在实际生产中，对于幅面较宽的薄膜，可以采用多个线扫描相机并行采集图像，同时传送给工业计算机的方式。然而随着幅宽增宽，生产运行速度更快，单位时间内采集得到的图像数据量更大，目前常见的图像处理软件方式越来越不能满足实时性的要求。无锡精谱测控设计开发出一种基于FPGA的薄膜瑕疵在线检测系统，将主要的图像瑕疵识别和图像处理交给以FPGA为核心的图像处理单元，处理结果传送给工业计算机，这样可以更好地适应高速、高质量生产的要求。

精谱测控薄膜瑕疵在线检测系统硬件组成

系统硬件由光源单元和图像处理单元两部分组成。光源单元包括LED线型光源和光源控制器，图像处理单元则由线扫描相机、FPGA图像处理板以及旋转编码器组成。

精谱测控薄膜瑕疵在线检测系统检测算法实现

薄膜瑕疵检测算法流程：首先将采集到的长L宽W的原始薄膜图像进行预处理，其中包括彩色图像灰度化处理和对比度拉伸处理；其次，通过相关系数法求出薄膜图片的最小重复周期t并获得(L-t)×W参考图像块和相同大小的待检测图像块，求出两个图像块的差值图像。之后将差值图像转为二值图像并进行形态学处理操作，获得检测结果图像。最后，在检测结果图像中，当其中有白色块的面积大于所设定的阈值w时，则该白色块为薄膜瑕疵。

精谱测控薄膜瑕疵在线检测系统系统软件

软件系统操作便捷，可实现100%幅面的表面瑕疵检测，各类瑕疵缺陷直观显示，发现瑕疵报警提示，实现了很好的系统联动性，并可针对每一批次进行质量数据保存或打印。

关于精谱测控薄膜表面检测系统原理介绍：

薄膜表面瑕疵检测系统采用CCD照相机将被检测的目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号，系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，如面积、数量、位置、长度，再根据预设的允许度和其他条件输出结果，包括尺寸、角度、个数、合格/不合格等，实现自动识别功能。从而代替人眼实现与生产线保持同步的在线检测。

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