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一种集成电路开短路测试方案详解

2018年05月11日 15:29 次阅读

集成电路开短路测试分为开路测试(open short to VDD)和短路测试(open short to VSS)。

一般来说,芯片的每个引脚都有泄放或保护电路是两个首尾相连的二极管,一端接VDD,一端接VSS,信号是从两个二极管的接点进来测试时测试时,先把芯片的VDD引脚接0伏(或接地),再给每个芯片引脚供给一个100uA到500uA从测试机到芯片的电流,电流会经上端二极管流向VDD(0伏),然后测引脚的电压,正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,我们一般设上限为1.5伏,下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VDD测试。

open_short_to_VSS测试的原理基本相同。同样把先VDD接0伏,然后再给一个芯片到测试的电流,电流由VSS经下端二级管流向测试机。然后测引脚的电压,同样正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,只是电压方向相反,上限还是为1.5伏,下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VSS测试。

总体设计

一种集成电路开短路测试方案详解

详细设计

(一)硬件设计

1. 恒电流电路设计

一种集成电路开短路测试方案详解

5V电压源通过电路产生2.5V电压,供电流源使用。电流源是通过Q1和Q2两个PNP管基极共联以及三个电阻按右上图所示连接而成,该电流源主要用于提供100mA到500mA的电流用于测试输入,其中C4电容主要是在瞬间断电起到缓冲作用

2. 判决电路设计

一种集成电路开短路测试方案详解

比较电路上端接2.5V,通过电阻的分压作用在芯片LM358AM的2号引脚产生1.5V的电压,在5号引脚产生0.2V的电压;将3和6号引脚电位与他们比较,以此来选通二极管D1或D2,当3和6号引脚电位高于1.5V或低于0.2V时二极管其中一个导通,介于两电位之间时两个二极管全部截止,其中3和6号引脚电位等于所U3选通引脚电位。

3. 控制电路设计

一种集成电路开短路测试方案详解

控制电路主要通过对AT89S52编程控制U2和U3的6,9,10,11号引脚实现;右上图是AT89S52的复位电路。

4. 选通电路设计

一种集成电路开短路测试方案详解

选通电路主要用于选择被测芯片的引脚,芯片U2选通的引脚通过其3号引脚将被测引脚点置0,芯片U3选通的引脚置于与其3号引脚相同的电平,之后通过发光二极管来显示两引脚是开路或短路,还是正常。

(二)软件设计

#include《reg52.h》

#include《intrins.h》

#define uint unsigned int

#define uchar unsigned char

sbit P1_0 =P1^0; //定义p1.0口

sbit P1_1 =P1^1;//定义P1.1口

void deplay(uint z) //延时

{

uint x,y;

for(x=z;x》0;x--)

for(y=110;y》0;y--);

}

void open_short_to_VDD() //开路测试

{

uint i,j;

P2=0x34;

i=P2&0x0f;

j=(P2&0xf0)》》4;

for(i=3;i《=6;i++)

{if(j==i) continue;

P2=(j《《4)|i;

if(P1_0)P1_1 =1;else P1_1 =0;

deplay(700);

}

}

void open_short_to_VSS() //短路测试

{

uint i,j;

P2=0x23;

i=P2&0x0f;

j=(P2&0xf0)》》4;

for(i=3;i《=6;i++)

{

if(i==j) conTInue;

P2=(j《《4)|i;

deplay(700);

}

}

void short_out_to_PIN() //对各引脚测短路

{uint i,j;

P2=0x32;

i=P2&0x0f;

j=(P2&0xf0)》》4;

for(i=3;i《=6;i++)

{

for(j=3;j《=6;j++)

{

if(j==i) conTInue;

P2=(j《《4)|i;

deplay(1000);

}

}

}

main()

{

while(1)

{

open_short_to_VDD();

deplay(700);

open_short_to_VSS();

deplay(700);

short_out_to_PIN();

}

}

系统设计

硬件原理图

一种集成电路开短路测试方案详解

测试

一种集成电路开短路测试方案详解

眼前最亮的黄灯亮了说明芯片没问题,后面的红灯亮指示的电源

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LM45 ±2°C 模拟输出温度传感器

LM45系列是精密集成电路温度传感器,其输出电压与摄氏(摄氏)温度成线性比例。 LM45不需要任何外部校准或微调,即可在室温下提供±2°C的精度,在整个-20至+ 100°C的温度范围内提供±3°C的精度。通过晶圆级的修整和校准确保低成本。 LM45的低输出阻抗,线性输出和精确的固有校准使得与读出或控制电路的接口特别容易。它可以与单个电源一起使用,也可以与正负电源一起使用。由于它的电源消耗仅为120μA,因此自然发热非常低,静止空气中的自热温度低于0.2°C。 LM45的额定工作温度范围为-20°至+ 100°C。 特性 直接以摄氏度(摄氏度)校准 线性+ 10.0 mV /°C比例因子 < li>±3°C精度保证 额定为-20°至+ 100°C范围 适用于远程应用 由于晶圆造成的低成本-Llevel Trimming 工作电压范围为4.0V至10V 电流消耗小于120μ 低自热,静止空气中为0.20°C 非线性仅±0.8°C最大温度 低阻抗输出,20 mA...

发表于 2018-09-17 16:30 396次阅读
LM45 ±2°C 模拟输出温度传感器

LM62 ±2°C 模拟输出温度传感器

LM62是一款精密集成电路温度传感器,可在+ 3.0V单电压下工作,检测0°C至+ 90°C温度范围供应。 LM62的输出电压与摄氏(摄氏)温度(+15.6 mV /°C)成线性比例,并具有+480 mV的直流偏移。偏移允许读取温度低至0°C而无需负电源。在0°C至+ 90°C的温度范围内,LM62的标称输出电压范围为+480 mV至+1884 mV。 LM62经过校准,可在室温和+ 2.5°C /-2.0°C范围内提供±2.0°C的精度,温度范围为0°C至+ 90°C。 LM62的线性输出,+ 480 mV偏移和工厂校准简化了在需要读取温度低至0°C的单电源环境中所需的外部电路。由于LM62的静态电流小于130μA,因此在静止空气中自热仅限于0.2°C。 LM62的关断功能是固有的,因为其固有的低功耗允许它直接从许多逻辑门的输出供电。 特性 校准线性比例因子+15.6 mV /°C 额定0°C至+ 90°C适用于远程应用的3.0V电压范围   关键规格 25°C±2.0或±3.0°时的精度C(最大) ...

发表于 2018-09-17 15:48 37次阅读
LM62 ±2°C 模拟输出温度传感器

LM235 模拟输出温度传感器,军用级,采用气密...

LM135系列是精密,易于校准的集成电路温度传感器。作为双端齐纳二极管,LM135的击穿电压与10 mV /°K时的绝对温度成正比。该器件的动态阻抗小于1Ω,工作电流范围为400μA至5 mA,性能几乎没有变化。在25°C下校准时,LM135在100°C温度范围内的误差通常小于1°C。与其他传感器不同,LM135具有线性输出。 LM135的应用包括几乎任何类型的温度检测,温度范围为-55°C至150°C。低阻抗和线性输出使得与读出或控制电路的接口特别容易。 LM135工作温度范围为-55°C至150°C,而LM235工作温度范围为?? 40° C至125°C的温度范围。 LM335的工作温度范围为-40°C至100°C。 LMx35器件采用密封TO晶体管封装,而LM335也采用塑料封装 特性 直接校准至开尔文温度   1°C初始准确度 工作电流范围为400μA至5 mA 小于1Ω动态阻抗 轻松校准 宽工作温度范围 200 °C超范围 低成本 ...

发表于 2018-09-13 14:35 72次阅读
LM235 模拟输出温度传感器,军用级,采用气密...

LOG2112 片上电压参考为 2.5V 的精密...

LOG112和LOG2112是多功能集成电路,可计算输入电流相对于参考电流的对数或对数比。 LOG112和LOG2112的V LOGOUT 被调整为每十倍输入电流0.5V,确保在宽动态范围的输入信号上具有高精度。 LOG112和LOG2112具有2.5V基准电压源,可用于使用外部电阻产生精密电流基准。 低直流偏移电压和温度漂移可在指定温度范围内精确测量低电平信号。 °C至+ 75°C。 特性 易于使用的完整功能 输出缩放放大器 片上2.5V电压参考 高精度:0.2%FSO超过5个十年 宽输入动态范围: 7.5十年,100pA至3.5mA 低电流电流:1.75mA 宽电源范围:±4.5V至±18V 封装:SO-14(窄)和SO-16 应用 日志,日志比率: 通信,分析,医疗,工业,测试,一般仪器 光电信号压缩放大器 模拟信号压缩模拟前后的模拟信号压缩-DIGITAL(A /D)转换器 吸光度测量 ...

发表于 2018-09-06 17:29 80次阅读
LOG2112 片上电压参考为 2.5V 的精密...

LMX2485Q-Q1 用于射频个人通信的汽车类...

LMX2485Q-Q1是一款带有辅助性整数N PLL的低功耗,高性能Δ-Σ分数N PLL。该器件采用TI高级工艺制造。 凭借Δ-Σ架构,低偏移频率下的分数杂波被推至回路带宽之外的更高频率。将杂波和相位噪声能量推至更高频率的能力是调制器阶数功能的直接体现。与模拟补偿不同,LMX2485Q-Q1采用的数字反馈技术对于温度变化和晶圆制造工艺变化的抗扰度较高.LMX2485Q-Q1Δ-Σ调制器经编程最高可达四阶,允许设计人员根据需要选择最优调制器阶数,从而满足系统对于相位噪声,杂波和锁定时间的要求。 对LMX2485Q-Q1进行编程的串行数据通过三线制高速(20MHz)MICROWIRE接口进行传输.LMX2485Q-Q1提供精确的频率分辨率,低杂波,快速编程以及改变频率的单字写入功能。这使其成为直接数字调制应用的理想选择。此类应用的N计数器通过信息直接调制.LMX2485Q-Q1采用4.0mm×4.0mm×0.8mm 24引脚超薄型四方扁平无引线(WQFN)封装。 特性 实现低分频系数分频的四模预分频器 射频(RF)锁相环(PLL ):8/9/12/13或16/17/20/21 中频(IF)PLL:8/9或16/17 < li>高级Δ-Σ分频补偿 12位或22位可选分频模量 最高可...

发表于 2018-08-06 17:13 211次阅读
LMX2485Q-Q1 用于射频个人通信的汽车类...

LMX2615-SP 具有相位同步功且支持 JE...

LMX2615-SP是一款高性能宽带锁相环(PLL),集成了电压控制振荡器(VCO)和稳压器,可输出40MHz的任何频率和没有倍频器的15 GHz,无需½谐波滤波器。此设备上的VCO覆盖整个八度音程,因此频率覆盖范围可达40 MHz。高性能PLL具有-236 dBc /Hz的品质因数和高相位检测器频率,可以实现非常低的带内噪声和集成抖动。 LMX2615-SP允许用户同步设备的多个实例的输出。这意味着可以从任何用例中的设备获得确定性阶段,包括启用分数引擎或输出分频器的设备。它还增加了对生成或重复SYSREF(符合JESD204B标准)的支持,使其成为高速数据转换器的理想低噪声时钟源。 该器件采用德州仪器制造?先进的BiCMOS工艺,采用64引脚CQFP陶瓷封装。 特性 辐射规格 单一事件闩锁> 120MeV-cm 2 /mg < /li> 总电离剂量达到100krad(Si) 40 MHz至15 GHz输出频率 -110 dBc /Hz相位采用15 GHz载波的100 kHz偏移噪声 8 GHz(100 Hz至100 MHz)时54 fs RMS抖动 可编程输出功率 PLL关键规格 品质因数:-236 dBc /Hz 归一化1 /f噪声:-129dBc /Hz 高达200 MHz相位检测器频率< /li> 跨多个设...

发表于 2018-08-03 17:56 147次阅读
LMX2615-SP 具有相位同步功且支持 JE...