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30秒搞定IIC时序分析

2016年12月16日 09:22 次阅读

  在I2C总线产品的硬件测试中,验证时序是否满足标准时经常要对十几项参数进行逐一测量,工作繁琐耗时长。但如果用了这一功能,30s之内即可搞定I2C时序分析软件。此功能ZDS全系列示波器均可免费升级!

  1、I2C总线介绍

  I2C总线是PHLIPS公司推出的一种串行总线,是具备多主机系统所需的包括总线裁决和高低速器件同步功能的高性能串行总线。I2C总线用于连接微控制器及其外围设备。


I2C器件选择

  物理结构上,I2C总线只有两根双向信号线,一根是数据线SDA,另一根是时钟线SCL。

  SCL(串行时钟线):上升沿将数据输入到每个EEPROM器件中;下降沿驱动EEPROM器件输出数据。

  SDA(串行数据线):双向数据线,为OD门,与其它任意数量的OD与OC门成“线与”关系。


图2:I2C总线内部结构

  2C总线通过上拉电阻接正电源。当总线空闲时,两根线均为高电平。连到总线上的任一器件输出的低电平,都将使总线信号变低,即各器件的SDA及SCL都是线“与”关系。

  I2C有三种速率,如下:

  普通模式(100kHz);

  快速模式(400kHz);

  高速模式(3.4MHz)。

  I2C总线数据有效性

  I2C总线进行数据传送时,时钟信号SCL为高电平期间,数据线SDA上的数据必须保持稳定,只有在时钟线SCL上的信号为低电平期间,数据线SDA上的高电平或低电平状态才允许变化,如图3所示。

  图3数据有效性

  2、I2C时序分析软件

  ZDS4000 Plus系列示波器是行业内首个标配I2C时序分析软件的示波器,该分析软件适用于所有应用I2C总线产品的硬件测试,特别是批量产品的硬件测试。传统的测试方法,需要人工定位每一项参数并单独卡光标测量,平均测试一组数据的时间约为30~60分钟,不仅效率低,而且容易引入读数误差甚至错误。

  使用I2C时序分析软件,它能够在极短的时间内完成总线信号的DC特性和AC特性分析,并与器件手册标称参数做对比,直接输出测试结果(Pass/Fail),同时支持报表导出,省去人工录入数据的烦恼,极大的提升测试效率。具体测试界面如下图4所示。

  图4 I2C时序分析界面

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I2C总线键盘电路以及驱动程序设计

  I2C 需要连线少,仅需一条串行时钟线和一条串行数据线。允许多主机控制,具有裁决和同步功能,可随...

发表于 2012-06-19 11:28 3943次阅读
I2C总线键盘电路以及驱动程序设计

NI发布全新PXI机箱,全面提高系统正常运行时间

  在NI PXIe-1066DC机全新机箱中,NI为PXI平台系列增加了冗余、热插拔和前端接入功能...

发表于 2012-05-28 09:08 635次阅读
NI发布全新PXI机箱,全面提高系统正常运行时间

常见的数字接口的简化示意图

下图显示的是:工业应用中最为常见的数字接口的简化示意图。

发表于 2012-05-25 16:48 877次阅读
常见的数字接口的简化示意图

设计一个属于您自己的简易I2C隔离器

通常产品设计时间非常紧张,用于新产品设计的资金也并不宽余。但不管怎样,我们都必须要在不增加成本的前提...

发表于 2012-05-24 15:20 646次阅读
设计一个属于您自己的简易I2C隔离器

基于802.11的高速蓝牙技术测试

  IMT-2000和802.11无线电会相互干扰,除非彼此在2.6GHz时的距离能达到8公尺左右,...

发表于 2012-05-18 11:15 1137次阅读
基于802.11的高速蓝牙技术测试

实现高速串行I/O效率的嵌入式测试

  随着技术的进步,电子产业自身在不断地发明创新。嵌入式系统设计师相当清楚这一点,许多人开发的应用数...

发表于 2012-05-18 10:42 317次阅读
实现高速串行I/O效率的嵌入式测试

惠普在上海公开测试设备

  美国惠普于2012年5月9日、10日在上海举行了“惠普2012全球科技影响力峰会(2012 HP...

发表于 2012-05-15 08:43 293次阅读
惠普在上海公开测试设备

最新测试技术在芯片良率提高中发挥新作用

在纳米设计时代,可制造性设计(DFM)方法在提高良率方面中已经占据了中心地位。为了实现更高的良率,人...

发表于 2012-05-10 17:04 544次阅读
最新测试技术在芯片良率提高中发挥新作用

LED驱动器的可靠性和电磁兼容性测试方案

提高系统的可靠性的根源在于系统的设计。要使系统的元器件工作在正常状态下,没有过载超负荷等现象的发生,...

发表于 2012-05-09 10:04 1181次阅读
LED驱动器的可靠性和电磁兼容性测试方案

为高电压测试选择最佳电缆

确保测试期间使用的电缆符合测试系统最大电压额定值。在功率器件关闭状态特性分析期间经常遇到高压、低电流...

发表于 2012-05-08 14:15 235次阅读
为高电压测试选择最佳电缆

复杂RF环境下的RFID测试

随着设备价格的下降及全球市场扩大,RFID应用正面临飞速发展。嵌入式RFID的使用量不断提高,随着泛...

发表于 2012-05-07 14:33 692次阅读
复杂RF环境下的RFID测试

RFID测试技术分析

随着阅读器与标签价格的降低和全球市场的扩大,射频标识 RFID(以下简称RFID)的应用与日俱增。标...

发表于 2012-05-03 13:59 360次阅读
RFID测试技术分析

设计早期对EMC的考虑

随着产品复杂性和密集度的提高以及设计周期的不断缩短,在设计周期的后期解决电磁兼容性(EMC)问题变得...

发表于 2012-05-02 10:32 335次阅读
设计早期对EMC的考虑