镀层测量仪与电镀镀层检测仪的介绍

镀层测量仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等（在有关国家和国际标准中称为覆层（coating））。 覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

对某物质进行X射线照射时，可以观测到主要以下3种X射线。（1） 萤光X射线（2） 散乱X射线（3） 透过X射线

性能：

有些膜厚仪采用了磁性测厚法，是一种超小型测量仪，它能快速，无损伤，精确地进行铁磁性金属基体上的喷涂。电镀层厚度的测量。可广泛用于制造业，金属加工业，化工业，商检等检测领域。特别适用于工程现场测量。

有些膜厚仪采用二次荧光法，它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

一、电镀镀层检测仪的特性：

若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K轨道，一个K轨道上的电子已事先被游离，另一个电子即代替他的地位，此称之为K辐射。不同的能阶转换出不同的能量，如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射，而Kβ辐射是电子从M轨道跳至K轨道的一种辐射，其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域，此种辐射称为L辐射。同样的L辐射可划分为Lα辐射，此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ辐射，此是由N轨道之电子跳入L轨道中。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%，而Lβ辐射能量较Lα大约20%，所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。

电镀镀层检测仪在开始测试时候最好进行几次简单的测试工作，不仅是确保设备的可用性（正常性），同时也检验电镀镀层检测仪各个接口是否符合标准;

二、镀层检测仪的原理

1、首先对我们要了解XRF如何测量元素成分含量的：

一个元素的成分计算公式可以简单用下面的公式表示：F？I=C，（这里C是样品含量，F是光谱中此元素比例系数，I是此元素在光谱中的激发强度），首先标样中已知C（此处用百分比表示），将此标样放入光谱，按着测试条件开X射线激发标样，此时得到一个I的值，C/I=F（这样就能计算出此元素的含量轻度比列系数）。

之后，待测样品放入光谱，同样条件用X射线激发样品，获得待测样品的I值，用这个I值乘以之前得到的F值，F？I=C 就能计算出此样品的含量C的值，这就是XRF测量元素含量的基本原理。

2、电镀镀层检测仪膜厚原理：

同理，Th=FI （这里Th是厚度，单位微米或其他长度单位）

首先也是用标样来标定，求出此样品的某元素镀层厚度强度比F。

测试待测样品时，用待测样品的镀层元素激发的I值乘以之前得到的F值，F？I=Th这样就能计算出待测样品的此元素镀层厚度值。

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