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全数字锁相环 (ADPLL)设计

oCEM_ICPlatform 来源:未知 作者:胡薇 2018-07-10 16:06 次阅读

6月12日,由工业信息化部人才交流中心主办,IC智慧谷、上海林恩信息咨询有限公司承办,南京江北新区人力资源服务产业园、中国半导体行业协会集成电路分会、上海集成电路技术与产业促进中心协办的第65期国际名家讲堂在上海举办,来自加利福尼亚大学洛杉矶分校(UCLA)的著名教授Behzad Razavi为中国的学员们带来了高性能锁相环设计短期高级课程。

PLL电路是用于生成与输入信号相位同步的新的信号电路,无论是工业还是民用,PLL电路的应用范围非常广,教授首先介绍了PLL的基本结构与各部分工作原理,对鉴相器和压控振荡器的设计都做了大致的说明,在稳定性、纹波和相位偏移之间的设计折衷给出了自己的建议。PLL电路的特性由环路滤波器决定,因此设计PLL电路时,将其深刻理解为负反馈电路非常重要,稳定的PLL电路的环路滤波器的设计方法是PLL设计的精髓。

随后教授连续讲解了4篇ISSCC发布的最新成果,传递最新的设计技术,包括PLL中各模块的滤波、叠加等相位噪声抑制技术,FinFET技术节点上的版图设计问题,更小的随机抖动设计方法,以及5G应用中低于-50dBm的功率设计技术和低于-40dBc的噪声设计技术。学员们都在电路实例中收获了应对PLL非理想效应的实际设计经验。

课程的最后一个专题环形振荡器的相位噪声分析,影响相位噪声的因素具有不同的性质,然而很难找到一种通用的方法来包含各种影响因素以获得PLL系统的总相位噪声,教授在噪声分析方面也提出了两个基本的设计准则,并介绍了一种没有电感元件的低噪声PLL设计技术。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
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原文标题:【精彩回顾】第65期国际名家讲堂:高性能锁相环设计

文章出处:【微信号:ICPlatform,微信公众号:芯动力人才计划】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

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