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芯片设计制造封装测试全流程

lhl545545 来源:星光鸿创 搜图网 百度 作者:星光鸿创 搜图网 2021-12-30 11:01 次阅读

芯片设计制造封装测试全流程:

1.IC设计

2.晶圆处理工序

3.圆针测工序

4.构装工序

5.测试工序

芯片在行内被称为集成电路芯片制造环节一般也采用外协形式完成,芯片的构装是将单个的晶粒固定在塑胶或陶瓷制的芯片基座上,最后未通过测试的芯片则视其达到的参数情况定作降级品或废品。

芯片由很多重叠的层组成,芯片封装环节一般采用外协形式完成,建立健全封装外协技术、质量、过程等外协控制体系,确保完成稳定的批量产品封装。

本文综合整理自星光鸿创 搜图网 百度
审核编辑:彭菁
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