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芯片功耗和性能验证解决方案

YCqV_FPGA_EETre 来源:FPGA开发圈 作者:FPGA开发圈 2021-01-14 10:31 次阅读

“市面上没有其他产品能够做到与我们同水平的高精度测量。如果 NI 没有提供这些工具,那么我们就得自行开发这些工具,而这需要多耗费数年的时间。NI 让我们能够专注于最重要的事情。”——某领先半导体公司硬件工程师

芯片功耗和性能验证解决方案

如今,人们对电子产品的功耗的要求不断提高,半导体公司正在争相设计低功耗、高能效的产品。为了在紧迫的市场周期内推出更有竞争力的产品,工程师需要快速测量、分析并正确地处理功耗数据。传统台式示波器和数字万用表(DMM)等价格过于昂贵,而且很难根据 Pin 脚或产品线进行扩展,而低成本数据采集解决方案往往精度不足,无法检测到很多像芯片睡眠模式状态下的微小电信号。面对这一进退两难的困境,一些企业选择仅仅对芯片部分功效进行分析,这将导致芯片高功耗、低品质等问题,最终引起市场机会的大量流失。

NI 芯片功耗和性能验证解决方案具有高准确度和高通道数,有助于加快产品上市时间,您可以使用专用仪器和基于配置的软件来快速设置、测量、记录和可视化功耗测量数据。

解决方案的优势

获取可靠且一致的功耗测量结果,为设计提供准确的反馈,帮助客户解决问题以及提高竞争力

体积小巧,具有高可扩展性,可从几个通道扩展到数百个通道

获取针对目标细分市场的洞察,优化功率效率和性能

快速查看有意义的功耗数据,让设计公司应用工程部门甚至客户更早参与进来为系统级验证提供帮助

通过完整的功率测量解决方案,最大限度提升设计和验证团队的效率

责任编辑:lq

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
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原文标题:NI芯片功耗和性能优化秘籍,现在可以下载了!

文章出处:【微信号:FPGA-EETrend,微信公众号:FPGA开发圈】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

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