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IC的四种ESD测试方法

2018年11月24日 09:23 次阅读

IC的ESD测试方法

主要有四种ESD测试组合:

一.输入/输出 pin相对于VDD/VSS测试。

IC的四种ESD测试方法

注解:

(1)所有输入/输出PAD相对于地的正向ESD脉冲测试。

(2)所有输入/输出PAD相对于地的负向ESD脉冲测试。

(3)所有输入/输出PAD相对于电源的正向ESD脉冲测试。

(4)所有输入/输出PAD相对于电源的负向ESD脉冲测试。

二. Pin to Pin ESD测试

IC的四种ESD测试方法

注解:

(1)每一个输入/输出相对于其他所有的输入/输出的正向ESD脉冲测试。

(2)每一个输入/输出相对于其他所有的输入/输出的负向ESD脉冲测试。

三. VDD to VSS ESD测试

IC的四种ESD测试方法

注解:

(1)正的ESD电压出现在VDD脚,此时VSS脚接地,但所有I/O脚皆悬空。

(2)负的ESD电压出现在VDD脚,此时VSS脚接地,但所有I/O脚皆悬空。

四. Analog Pin ESD测试

在模拟IC内常有差动输入级(Differential Pair)。如OP的差动输入级的正负输入端连接到IC的Pin时,这两支输入脚要另外单独做R电放电测试,以验证该两支输入脚所连接的差动输入级会不会被静电放电所破坏。

IC的四种ESD测试方法

注解:

(1)正的ESD电压出现在差动输入级的正输入脚位,此时差动输入级的负输入脚接地,其他所有I/O脚以及VDD,VSS脚皆悬空。

(2)负的ESD电压出现在差动输入级的正输入脚位,此时差动输入级的负输入脚接地,其他所有I/O脚以及VDD,VSS脚皆悬空。

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