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电子发烧友网>测量仪表>泰克推出带KTE V7.1软件的S530参数测试系统,加速半导体芯片生产

泰克推出带KTE V7.1软件的S530参数测试系统,加速半导体芯片生产

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2011-09-28 18:23:1619

吉时利仪器扩展S530参数测试系统量测能力

  吉时利仪器公司持续强化S530参数测试系统,使这款测试系统成为半导体业界高速产品参数测试最具成本效益的解决方案。在最新版本吉时利测试环境软体(KTE V5.4)的支援下,S530
2012-03-28 09:20:20860

吉时利仪器增强了S530参数测试系统的测量功能

吉时利仪器公司不断增强半导体行业性价比最高的高速生产参数测试方案——S530参数测试系统的功能。由于有吉时利测试环境软件KTE V5.4)的支持,S530目前配置为48引脚全Kelvin开关以
2012-03-30 11:05:19836

重庆万国半导体12英寸功率半导体芯片正式进入试生产阶段

6月,在两江新区水土高新生态城的一间厂房内,重庆万国半导体科技有限公司(以下简称“重庆万国”)半导体12英寸功率半导体芯片制造及封装测试生产项目正式进入试生产阶段。
2018-07-01 10:21:004800

南牛异步电机设计软件V7.1免费版应用程序免费下载

本文档的主要内容详细介绍的是南牛异步电机设计软件V7.1免费版应用程序免费下载。
2018-09-04 08:00:000

利用​NI​半导体测试系统​(STS)​软件​的​增强​功能,​加速测试​程序​开发,​提高​运营​

国家仪器该公司于今日推出了STS软件的最新增强功能,这些功能可显著提升NI半导体测试系统的编程和调试体验,并大大提高测试执行速度、并行测试效率和整体设备效率。
2019-10-14 14:30:52910

半导体测试—优质好文推荐

半导体测试贯穿设计、生产过程的核心环节。半导体测试就是通过测量半导体的输出响应和预期输出并进行比较以确定或评估集成电路功能和性能的过程,其测试内容主要为电学参数测试。一般来说,每个芯片都要经过两类
2020-10-30 04:08:07808

半导体测试芯片测试一样吗?答案是这样

最近有很多人问到,半导体测试和IC现货芯片测试是一回事吗?今天安玛科技小编为大家解惑。 半导体测试并不一定等同于IC现货芯片测试,两者也不完全是一回事。半导体测试实际上是半导体设备中的一项技术
2023-04-17 18:09:36858

半导体芯片测试/半导体可靠性测试

为什么要进行半导体芯片测试?芯片测试的目的是在找出没问题的芯片的同时尽量节约成本。芯片复杂度越来越高,为了保证出厂的芯片质量不出任何问题,需要在出厂前进行测试以确保功能完整性等。而芯片作为一个大
2022-12-29 16:33:292383

半导体测试系统 芯片自动化测试软件 可定制测试方案ATECLOUD-IC

测试产品:芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试
2023-06-20 16:55:17767

广立微推出新一代通用型高性能半导体参数测试系统T4000

近日,杭州广立微电子股份有限公司正式推出了新一代通用型高性能半导体参数测试系统T4000。该系列产品是对公司现有并行perpin测试设备T4100S的重要补充,能够覆盖不同用户的使用需求。T4000
2023-07-03 11:44:22479

芯片测试大讲堂——半导体参数测试与避坑指南

芯片测试大讲堂系列 又和大家见面了 本期我们来聊聊 半导体参数测试 内容涉及半导体参数测试原理, 参数测试面临的挑战与实测避坑指南。 前言 ● 半导体元器件是构成现代电子设备和系统的基础,其性能
2023-09-13 07:45:021210

半导体静态测试参数是什么?纳米软件半导体参数分析系统能否满足测试指标?

半导体静态测试参数是指在直流条件下对其进行测试,目的是为了判断半导体分立器件在直流条件下的性能,主要是测试半导体器件在工作过程中的电流特性和电压特性。ATECLOUD半导体测试系统采用软硬件架构为测试工程师提供整体解决方案,此系统可程控,可以实现随时随地测试,移动端也可实时监控测试数据情况。
2023-10-10 15:05:30415

纳米软件半导体测试厂家助力半导体分立器件动态参数测试

半导体动态测试参数是指在交流条件下对器件进行测试,是确保半导体性能、稳定性和可靠性的重要依据。动态测试参数主要有开关时间、开关损耗、反向恢复电流、开关电流、耗散功率等。
2023-10-10 15:23:38278

如何用纳米软件半导体老化测试系统测试芯片老化?

芯片老化测试的目的是为了评估芯片长期在各种环境下工作的寿命、性能及可靠性,以确保芯片系统的工作稳定性。往期我们分享了芯片老化测试的内容及注意事项,今天我们将分享如何用纳米软件半导体老化测试系统测试芯片老化。
2023-10-16 15:49:32469

联讯仪器WAT半导体参数测试系统简介

联讯仪器WAT 半导体参数测试系统基于自主研发pA/亚pA高精度源表,半导体矩阵开关,高电压半导体脉冲源,3500V高压源表等基础仪表,掌握核心技术,通过优化整机软硬件设计,进一步提高系统精度,提升
2023-11-06 16:27:57467

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