T/R组件波束控制测试方案设计

　　1 引言

　　信息技术的发展早已渗透到国民经济的各个领域，而雷达技术自问世以来就已经在军事领域发挥着举足轻重的作用。为适应人造地球卫星及弹道导弹的观测要求，有源相控阵雷达技术获得了飞速发展。

　　T/R 组件波束控制电路是有源相控阵雷达上的关键元器件。波束控制电路一般为定制专用芯片，不同的波控电路差异较大，但是其主要的工作原理及内部结构大致相同。由于具有专用性，波束控制电路的测试比较麻烦。本文分析了波束控制电路的主要内部结构，找出电路测试中的难点，提出一种解决方案，并给出设计原理与结构，为该类电路的测试提供了一种简化的思路。

　　2 波束控制电路原理及测试难点

　　波束控制电路中大多是专用电路，但是其主要原理及内部结构大致相同，主要包括串并转换、故障检测、控制信号三部分。串并转换实现将多位串行数据转换成并行数据，经驱动输出，后接组件移相器、衰减器。因用户需求不同，串行数据位数也有较大差异，有26位，也有50位，甚至更高位数。故障检测主要用于实现奇偶效验、并串转换输出，有些波控电路还具有一些模拟检测功能，如欠压保护。控制信号部分主要是一些逻辑功能信号，用于组件控制信号。因此，波束控制电路可以说是集时序逻辑和组合逻辑于一体的数字模拟集成电路。

　　图1和图2分别示出一种波束控制电路的工作原理及时序，其内部结构包括上述三个部分。可以看出，波束控制电路的测试难点有以下几个方面：

　　1）输入信号较多，而且输入信号之间有着严格的时序关系，这是数字电路的特点；

　　2）输出信号较多，其中有正电源输出，也有负电源输出，而且波控输出负电平电压与很多大型测试设备接口不兼容；

　　3）逻辑组合关系较复杂，测试时需要大量的向量存储空间；

　　4）自检信号的测试不太好处理。

　　图1 波束控制电路工作原理

　　图2 波束控制电路工作时序